牛津(OXFORD) X-MET5000 手持式X荧光光谱仪
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北京松信宏泽科技有限公司
:潘女士
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牛津仪器推出了新款手持式X射线荧光光谱仪, 可满足各种苛刻的元素分析要求。
牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式X射线荧光光谱仪(XRF) — X-MET5000,该仪器能够进行高精度、高可靠性的元素分析。牛津仪器的手持式X射线荧光光谱仪誉满,X-MET5000是其第四代产品。
这款全新的光谱仪拥有高性能和高可靠性,它综合了牛津仪器的PentaFET探测器技术,能够保证所有用户感兴趣的元素均得到快速分析,并且提供更低的元素检测下限。 这款光谱仪专门为各种zui严格的质量控制应用而设计,例如金属废料回收利用、合金分类鉴定以及玩具和消费产品的含铅量检测结果是否符合RoHS指令要求。此外,X-MET5000还能满足采矿业的需求,也可在环境监测行业中用于测定土壤中的重金属含量。
这款坚固、可靠的工具通过了IP54 (NEMA 3)认证,具备的防水防尘性能。X-MET5000是恶劣应用环境的理想选择。该仪器所配备的电池可持续使用一个工作日,从而提高了工作效率。
其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果,从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET5000能够识别材料类型,并自动选择*分析方法。
借助于其可选配的台式支架,可免除执行多分析任务时的手工操作,同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。
· 废旧金属回收
由于现今金属价格高涨,特别是镍(Ni)为代表的几类金属,企业要在现代废旧金属回收行业中获得收益,合金成分的精确鉴定起到至关重要的作用。X-MET5000能够快速、精确地鉴定镍的成分,即使其含量低于1%。这款仪器可以同时加载金属分析和塑胶分析的程序,满足日益发展的废料回收业的需求。另外,对贵金属的分析也可通过这款仪器得以实现。
X-MET5000 的主要优势就在于其轻元素处理 (LET) 模式,此模式可允许对重金属进行快速、准确的分析——即使样品中存在铝和硅等轻元素,仍不会影响其分析结果。而其他普通分析仪由于只使用“基本参数(FP)法”,根本无法分析由于轻元素的存在对zui终的分析结果造成的干扰。
· 合金分类
· RoHS
X-MET5000可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。
RoHS等指令限制电子和电气产品中铅、gong、ge、六价铬、多溴联苯和多溴联苯醚(溴的化合物)的含量。这些指令要求对所有电子设备中使用的材料和零部件进行检测,这对电子产品制造厂商和供应链产生了很大的影响。X-MET5000采用IEC 62321标准中所规定的测试方法,能够非常便捷有效地筛选样品中的相关受限物质的含量是否能够满足RoHS指令的相关要求。
航kong、医学、军事等属于这些指令的豁免行业,用X-MET5000可以确保其产品部件中含有足够量的铅,特别是在镀层和焊接件中足够的铅含量能够保证产品的安全性和可靠性。X-MET5000还可以在数秒内分拣出塑料制品中的聚氯乙烯、溴或锑的含量,以符合废旧电子和电气设备回收(WEEE)指令的要求。
其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果,从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET5000 能够识别材料类型,并自动选择*分析方法。
借助于其可选配的台式支架,可免除执行多分析任务时的手工操作,同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。
· 矿石
X-MET5000可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。
RoHS等指令限制电子和电气产品中铅、gong、ge、六价铬、多溴联苯和多溴联苯醚(溴的化合物)的含量。这些指令要求对所有电子设备中使用的材料和零部件进行检测,这对电子产品制造厂商和供应链产生了很大的影响。X-MET5000采用IEC 62321标准中所规定的测试方法,能够非常便捷有效地筛选样品中的相关受限物质的含量是否能够满足RoHS指令的相关要求。
航kong、医学、军事等属于这些指令的豁免行业,用X-MET5000可以确保其产品部件中含有足够量的铅,特别是在镀层和焊接件中足够的铅含量能够保证产品的安全性和可靠性。X-MET5000还可以在数秒内分拣出塑料制品中的聚氯乙烯、溴或锑的含量,以符合废旧电子和电气设备回收(WEEE)指令的要求。
其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果,从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET5000 能够识别材料类型,并自动选择*分析方法。
借助于其可选配的台式支架,可免除执行多分析任务时的手工操作,同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。
· 土壤
X-MET5000的主要优势就在于其轻元素处理 (LET) 模式,此模式可允许对重金属进行快速、准确的分析——即使样品中存在铝和硅等轻元素,仍不会影响其分析结果。而其他普通分析仪由于只使用“基本参数(FP)法”,根本无法分析由于轻元素的存在对zui终的分析结果造成的干扰。
北京松信宏泽科技有限公司
:潘女士
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