美国JDSUEST-125/EDT-135误码测试仪
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美国JDSU EST-125/EDT-135是多用途的现场测试仪表，主要用于维护和故障查找。使用方便，可通过软件升级获得新的测试功能，并且可对多种数字设备进行测试，确保了工作人员的工作效率。
美国JDSU EST-125/EDT-135误码测试仪产品简介：美国JDSU (Acterna)2M 和数据测试仪因其高度的可扩展性和升级性给数字网络的安装，调试和维护提供了很大的方便。 E 系列仪表可以对众多的数字设备进行成帧和非成帧的测试，确保了技术人员的快捷和高效的工作。 E 系列仪表结构紧凑，结实而轻便，是工程现场测试的首肯。它可以通过软件升级获得其他重要测试功能，包括脉冲波形分析，抖动和帧中继测试，所有新增功能都可以在现有的硬件和接口上实现，无需更改安装新的硬件。
E 系列仪表包括 EST-120 ， EST-125 ， EDT-130 和 EDT-135 。其中 EST-120 ， EST-125 是为 E1 PCM 电路的调试，维护和故障查找设计的多用途的现场测试仪表。它们能执行许多测试，包括成帧 / 非成帧的业务的监视，成帧和非成帧的端对端测试。信道信令的监视，环回时延的测试和 BERT 。而 EDT-130 和 EDT-135 的功能与 EST 系列仪表在 E1 电路的测试上，功能一样。所不同是 EDT 系列仪表增加了数据电路和复用器的测试。
美国JDSU EST-125/EDT-135误码测试仪产品特点：
● 提供灵活的软件升级能力，能通过升级进行帧中继， GSM ，和复用系统(X. 50 ， HCM ， V.110) 测试
● 自动配置的功能和大而清晰的屏幕显示，使用户可以直观地评估电路的情况
● 对 E1 平衡和非平衡电路进行物理层的完整测试，包括 BERT,VF ，环回时延
● 提供基于 ITU—T 建议的 G.821,G.826 ， M.2100 服务质量测试
● 通过获得的 Gelbricht 同步方法，准确区分 QoS 测试过程中出现的比特错误和比特滑动问题
美国JDSU EST-125/EDT-135误码测试仪技术参数：
E1测试仪 EST-125 | E1与数据测试仪 EDT-135 | ||||
常规特性 | |||||
远端操作和控制 | √ | √ | |||
自动配置 | √ | √ | |||
测试图案，固定、可编程和ITU-T型 | √ | √ | |||
可下载软件升级 | √ | √ | |||
测试配置和结果存储，打印机接口 | √ | √ | |||
可编程测试时间，LED 告警指示 | √ | √ | |||
屏幕背景光可调，大屏幕显示 | √ | √ | |||
E1电路测试 | |||||
平衡和非平衡G.703 Tx和Rx | √ | √ | |||
端接和桥接方式 | √ | √ | |||
成帧和非成帧测试信号的产生 | √ | √ | |||
n和m x 64 kbps时隙监视 | √ | √ | |||
生成码型插入到时隙中 | √ | √ | |||
G.821,G.826,M.2100分析（IS与OOS） | √ | √ | |||
错误与告警的生成和分析 | √ | √ | |||
以不同的电平和频率生成 PCM 音频 | √ | √ | |||
PCM解码和音频输出 | √ | √ | |||
对全部30个信道的CAS监测 | √ | √ | |||
每个信道CAS历史数据分析 | √ | √ | |||
直通模式的E1信号 | √ | √ | |||
n x 64 kbps 分插 | √ | √ | |||
m x 64 kbps 分插 | √ | √ | |||
Si, Sa, A/E bit, NFAS与MFAS生成和监视 | √ | √ | |||
Tx 频率偏移 | √ | √ | |||
成帧和非成帧环回时延 | √ | √ | |||
将Pattern加入到MUX信道，监测E1信号 | √ | √ | |||
将Pattern加入到E1信号，监测MUX信道 | √ | √ | |||
X.50复用器测试 |
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X.21, V.11/RS422接口 |
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V.24/RS232接口（同步和异步） |
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V.35, V.36/RS449, EIA530接口（带适配器） |
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美国JDSUEST-125,EDT-135技术指标：
接口 | 测试码型 | |
G.703 | 2E6–1,2E9–1,2E11–1,2E15–1,2E20–1,2E23–1 | |
X.21/V.11 | 1和0交替，全1，全0 | |
V.24 (RS232) | 8与16比特可编程字 | |
V.35 通过适配器 | 误码插入 | |
V.36 (RS449) 通过适配器 | 比特，代码，FAS， CRC误码 | 单个误码，误码率或误码频率 |
EIA530 通过适配器 | 时钟 | |
物理连接 | G.703 发射时钟源2048 kbps 与同向 | |
3脚CF连接器 (120 Ω 平衡) | 内部时钟，外部时钟，来自RX 的时钟 | |
BNC连接器 (75 Ω 非平衡) | 打印机与远端操作 | |
15路D型 (100 Ω 平衡) | 接口 V.24，DTE，异步 | |
25路D型 | 波特率 300,600,1200, 2400,9600,19200, 38400 | |
G.703 测试模式 | 前面板 | |||
RX模式 | 显示 | 42 字符x 16 行LCD，带有背景光 | ||
帧格式 | PCM30, PCM30C, PCM31, PCM31C 或未成帧 | LEDs | 2个总缆，14个告警／误码，选项与低电平 | |
G.703 线路代码 | HBD3, AMI, 同向 | 键盘 | 数字键盘，4个光标，2个对比度，主菜单，6个软键，alt，开与关 | |
V.11 分出 | n x 64 kbps, m x 64 kbps | |||
RX/TX | 存储／存储器 | |||
作为RX附加上： | BER 测试码型发生 n x 64 kbps, m x 64 kbps | 8 测试配置存储与8个测试结果存储器 | ||
自检 | ||||
V.11分插 | 分出或插入n与m x 64 kbps 分出与插入n x 64 kbps | 打开电源时全面自检 | ||
语言 | ||||
2 Mbps内部时钟偏移高至 ±150ppm | 英语，德语，法语，西班牙语，意大利语，土耳 其语与葡萄牙语 | |||
可编程的Si, Sa, A与E比特与NMFAS | ||||
环路延迟模式 | 电源 | |||
成帧与未成帧的2 Mbps | 内置电源 | 可充电NiCd电池 (8到10小时工作时间) | ||
范围 | 0-10s | 外部电源 | 外部电源适配器／充电器 | |
分辨力 | 1μs | 自动关闭之前显示低电池电量告警 | ||
MUX/DEMUX模式 | 重量／尺寸 | |||
G.703接口作为RX/TX模式 | 重量 | 大约1.55 kg | ||
对V.11, V.24, V35, V.36的未成帧的DTE仿真 | 尺寸(hxdxw) | 72 x136 x195mm | ||
监测模式 | 软件选件（需另外付费） | |
同时监测与显示帧与复帧中的任何时隙 | French S/C bits （BN 4562/00.11） | |
同时监测与生成NFAS的Si, Sa, A与E比特 | X.50 （BN 4535/00.14） | |
同时监测与生成NMFAS | GSM （BN 4534/00.15） | |
电平与频率模式 | G.826 （BN 4534/00.34） | |
对一个时隙内的正弦信号的PCM生成与测量 （ITU-T G.711建议中的A-律） | 全1／全0直方图 （BN 4534/00.20） | |
M.2100 （BN 4534/00.13） | ||
Tx频率范围 | 5 Hz到3998 Hz | 噪声测量 （BN 4534/00.23） |
Tx电平范围 | –55 dBm0到+3 dBm0 | V接口状态监测仪 （BN 4535/00.28） |
Rx电平测量 | –80 dBm0到+5 dBm0 | V.110 （BN 4535/00.32） |
X.50 测试模式 | HCM （BN 4535/00.35） | |
RX/TX，直通，D&I 以及 MUX/DEMUX | 帧中继（增强型） （BN 4535/00.41） | |
分区2与3成帧 | 抖动 （BN 4534/00.42） | |
n x 600, 19.2, 48 kbps中的测试码型插入／评估 | 数据通信 （BN 4534/00.44） | |
X.50帧分析 | V时延 （BN 4534/00.48） | |
可编程A-H比特 | French S/C bits （BN 4534/00.11） | |
| 大频率偏移 （BN 4534/00.19） | |
| PCM告警分析 （BN 4534/00.26） | |
| 扩展的PRBS （BN 4534/00.36） | |
