E4991A E4991A 射频阻抗/材料分析仪 谭艳飞

公司名称：深 圳 仪 信 电 子 科 技 有 限 公 司

     深 圳 佳 华 泰 电 子 科 技 有 限公 司

:谭艳飞（总）——李玲（特助）

手机: 谭S /

技术咨询：蒋工

电 话：  传 真：

客 服 /  837477829

淘宝店铺：http://tosstar.taobao.com    

网    址：http://www.yqybshop.com

          http://www.yixin1718.com

邮    箱：yixin1718

地址：深圳市龙华新区油松路天汇大厦A栋408

主要特性与技术指标 基本精度

•基本精度 +/-0.8%

扫描参数

•频率：1 MHz 至 3 GHz

•振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

•DC 偏置电平（选件 -001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA

更多特性

•Windows 风格的用户界面

•内置 VBA 编程功能

•通过 LAN 接口进行数据传输

多功能测量选件

•介电/磁性材料测量（选件 -002）

•可靠的晶圆测量（选件 -010）

•温度特性测量（选件 -007）

描述

射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同， 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。

材料评估

提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。

晶圆测量

借助-010 探针台连接套件，您可轻松地地将 Agilent 连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。

温度特性评估

温度特性测试套件 -007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。