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CMI900膜厚仪类型功能技术参数:
测试模式:仪器默认为连续(CONT INUE)测量模式,因为连续测试更能减少手误操作误差,这性能技术高于一般同行的涂层测厚仪水平,一般的涂层测厚仪只有单次测试模式,东儒DR系列测厚仪都可以调节连续测试和单次(SINGLE)测量方式。
统计功能:一般涂层测厚仪需要手工操作记录数据,然后计算平均值等,东儒涂层测厚仪设置了自动求取zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)四个统计功能,更便捷,简单,方便。
存储功能:这是区别于一般涂层测厚仪的分界线,DR260/270/280测厚仪可存贮800多个测量数据,连接电脑导出数据*保存,打印存档,留住辉煌成就,更具*性。
测量范围:0-1250/3000μm(超过1250μm要提前告知厂家另行定制)
使用环境:温度:0℃-50℃,湿度:20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用
分辨率:0.1μm /1μm(100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm)
zui薄基体:0.4mm
测量精度:±(1%-3%) 1.5μm
外形尺寸:130mm*70mm*24mm
电源:三节(7号)碱性电池
重量:100g
特点:小体积,重量轻,便携,现场测量,可以用于实验室内,电子数显,大液晶显示屏,背光,连续测试,统计功能等。
CMI900膜厚仪类型优势:
杰出的*稳定性:
·自动热补偿测量仪器温度,纠正变化,提供稳定的结果
·简单快速的光谱校准,定期检查仪器性能(如灵敏度),并提供必要的纠正
坚固耐用的设计
·可以在实验室或生产线上操作
·坚固的工业设计
·经行业验证的技术,在销售量超过3000台
有效调整生产过程,从而提高生产力
·确保元件可靠性
·优化质量控制,从而确保产品生命周期
·测量焊料合金成份和镀层厚度
·分析导电性镀层金和钯的厚度
·测量电脑硬盘上的NiP层厚度
电镀处理的成本zui小化,产量zui大化
·快速简单的分析
·同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
·zui多可分析4层(不包括基层)
·镀液成份分析
珠宝及其他合金的快速无损分析
·贵金属合金分析
·黄金纯度分析
·材料鉴定
CMI900膜厚仪维修使用方法:
仪器装上电池后,按下“ON/OFF”按键开机,等蜂鸣声响后,液晶显示屏上显示"0"时,仪器自动进入测量状态,直接将测头垂直并快速紧压到工件表面的涂镀层上,仪器通过测头自动测量出涂层厚度,并通过显示屏把厚度值显示出来(注意:测量时注意测头保持垂直)
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