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供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。
美国博曼(Bowman)BA100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。
美国博曼(Bowman)分析仪器即使在客户遇到zui严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。
供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪功能
样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:SmartLinkFP软件包
供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪主要特点
性能与可操作性的*化
紧凑式设计,改善效率和精度
高分辨半导体固态探测器(Si-Pin),提高稳定性和灵敏度
更短的预热时间,更长寿命的光管
多种规格一次滤波器和准直器
可变焦距适应复杂样品的测量需求
模块化设计,方便维修、维护
简单的设计、强大的分析能力
快速、无损的分析
成份分析zui多可达25种元素
同时可zui多分析5层
基于基本参数法的镀层和成份分析方法
仅需一根USB线与电脑连接
快捷的面板控制按钮
占用空间小、轻量化设计
直观的用户界面
zui大的分析灵活性,减少用户出错机会
基于Net framework框架的Xralizer软件
直观的图标引导用户界面
强大的定性、无标样分析功能
功能强大的标准片库
用于快速分析的可定制快捷键
灵活的数据显示与导出
强大的报告编辑生成
供应美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪技术参数
项目名称 | 具体描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射线激发系统 | ·垂直下照式X射线光学系统 ·50W(50kV,1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
准直器系统 | ·单准直器组件; ·多准直器自动控制组件:zui多可同时装配6种规格的准直器 ·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选(红色为常用的):
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测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时,zui小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品室 | 开槽式样品室,测量大型平板样品,如尺寸大于仪器宽度的线路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样 品 台 |
固定样品台 ·Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制 ·zui大样品高度33mm ·仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×305mm(16×30.3×12") | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
加深样品台 ·Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制 ·zui大样品高度160mm ·样品仓有4个位置卡槽,相邻卡槽垂直间距25.4mm,样品台支架可放置在不同位置的卡槽上,可测不同高度的样品 ·样品仓内部尺寸(宽×深×高):279×508×152mm(11×20×6”) ·仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×400mm(16×30.3×15.7") ·自定义样品台:依据客户要求提供更高的样品台,满足高度>160mm的样品测量,仓内设置多个位置卡槽,相邻卡槽垂直间距25.4mm
自动样品台 ·Z轴自动控制,移动行程:43mm(1.7") ·XY轴自动控制,样品台移动行程:178×178mm(7x7”) ·zui大样品高度33mm ·样品台尺寸(宽×深):610×560mm(24×22”) ·仪器外形尺寸(宽×深×高):610×1037×375mm(24×40.8×14.8") ·可提供对样品的自动和编程控制,多点测量 ·鼠标控制样品台移动,精确地定位样品测量点 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
镭射聚焦 | ·镭射用于自动精确定位X射线光管/探测器与样品到测试距离 ·单击鼠标,Z轴自动扫描 ·Z轴自动聚焦到焦距12.7mm,同时将样品图像定焦(显示在屏幕上) ·避免了人为操作误差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品观察系统 | ·高分辨率彩色CCD观察系统,标准光学放大倍数为30倍 ·可选50倍和100倍观察系统 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
结果输出 | ·测量数据报告可直接打印或一键导出到PDF文件、Excel文件,为质量管理保留宝贵的原始资料 ·测量数据报告可包含测量数据、测量样品图像、各种统计分析图表、自定义的报告模板(系统预置模板、含用户信息的自制模板) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
计算机系统配置 | ·IBM计算机 ·佳能彩色喷墨打印机 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析应用软件 | ·操作系统:Windows XP中文平台 ·分析软件包:SmartLink FP软件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系统安全性 | ·Z轴保护传感器 ·安全防射线光闸 ·样品室门开闭传感器 ·X射线锁 ·X射线警示灯 ·紧急停止按钮 ·前面板安全钮和后面板安全锁 ·多用户密码保护,只向日常操作员设定有限的*,操作界面简单,功能受限 ·主管人员可进行系统维护 ·系统自动生成操作员的使用记录 ·开启“自动锁定”功能可以防止未*人员使用;测量结束后,超过预设的时*,软件锁定并要求输入密码 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量位置预览功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光对焦和自动对焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
统计计算功能 | 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
数据分组、X-bar/R图表、直方图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
数据库存储功能 |
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