叶面积扫描仪YMJ-C对于不规则平面面积测量

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2018-05-15 13:28:13
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叶面积扫描仪YMJ-C对于不规则平面面积测量

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叶面积扫描仪YMJ-C对于不规则平面面积测量

  叶面积扫描仪图像测量技术具有检测时的非接触性、高精度、在线动态检测、测量速度快及检测智能化的特点,已成为现代测控技术的重要发展方向。

  对于不规则平面面积的叶面积扫描仪测量方法,国内外的研究人员曾做了大量的研究工作。例如:在哈尔滨研制的激光CCD零件自动识别检测系统;英国研制的AM-100叶面积测量仪;德国研制的VIDAS型全自动图像分析仪等。这些检测设备的应用主要集中于线阵CCD,线阵CCD图像传感器与光学镜头配合可用来检测大型的目标物尺寸。但设备比较复杂,需要相当精密的驱动传送控制,适应性不够强。

  利用面阵叶面积扫描仪可以在约40ms内获得不规则物体的二维信息,并且不再需要扫描控制电路、驱动传送机构等,使得设备相对简单,测量速度得到提高。并可以采用多个面阵叶面积扫描仪协同测量几何尺寸大的物体。特殊应用玻璃在其工作环境中(低温)需具有良好的透过率,但由于工作环境的缘故,易结霜或表面附着水气,严重影响其透过率。

仪器名称:叶面积扫描仪

仪器型号:YMJ-C

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叶面积扫描仪 http://www.*7.net/yq_list/yq_232_1.html

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