高精度晶振测试仪

JC-3195A高精度晶振测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-01-02 10:58:53
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深圳市创鑫仪器有限公司

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产品简介

简单介绍: JC-3195A高精度晶振测试仪 深圳创鑫JC-3195A高精度晶振测试仪是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL(机内带可调负载电容12.5pF~50pF,且等效电阻和谐振频率直接读数,激励功率可调)。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。

详细介绍

JC-3195A高精度晶振测试仪

特点:1.测量中频160MHz石英晶体谐振频率、等效电阻。

2.第四代升级产品,电调谐、新器件,新型测试插座更实用。

3.谐振频率、等效电阻全数显,激励功率可调。精度高,测速快。

4.频率测量精度≤5PPM,可选配更高精度频标。

5.可选配带PPM误差显示和频率分档分选的十三位频率计。


性能指标:

□ 测频范围:160MHz

电阻测量范围:1500Ω。

激励功率可调范围:11200μW

□ 可调负载电容:1250PF

八位频率显示。

□ 四位PPM显示,频率上下限、200档分档分选。

□ 上下限频率分别设置,超出范围(不合格)时自动声光报警。


性能指标

JC-3195A

测频范围(MHz)

160

阻抗测量范围(Ω)

1500

激励功率可调范围(μW

11200

可调负载电容(pF

1250

PPM显示/误差分档

±9999











JC-3195A高精度晶振测试仪 详细资料

1. 概述

深圳创鑫JC-3195A高精度晶振测试仪是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL(机内带可调负载电容12.5pF~50pF,且等效电阻和谐振频率直接读数,激励功率可调)。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。

2JC-3195A高精度晶振测试仪 技术参数

2.1 频率范围: 1 ~ 60 MHz

频段划分: 1 1 ~ 2.2 MHz

2 2.2 ~ 5 MHz

3 5~ 10 MHz

4 10 ~ 20 MHz

5 20 ~ 40 MHz

6 40 ~ 60 MHz

2.2 测量网络的终端电阻:源端 24 Ω;负载端 27 Ω。

2.3 起振电阻范围:

1 ~ 10 MHz起振电阻范围为0 ~ 500 Ω;

10 ~ 60 MHz起振电阻范围为0 ~ 100 Ω。

2.4 阻值读数范围:

0 ~ 1999.9 Ω 误差±(10+频率MHz为单位时/10)%。

2.5 激励功率范围: 1.5 ~ 1200μW 误差±25%

2.6 负载电容范围: 12.5~50pF

2.7 频率计测量准确度: 5 PPM。

2.8 频率计数字显示: 8位。

2.9 时基稳定性: 短期:1×10 –7 /秒 长期:2×10 –5 / 月。

[可选配高稳定度的恒温晶振(1~5)×10 –8/日]。

2.10 JC-3195A高精度晶振测试仪使用环境: a.环境温度:20℃±2℃;

b.相对湿度:(45 ~ 75)%;

c.大气压强:86 ~ 106 kPa;

d.避免外电磁场干扰,避免阳光直射。

2.11 安全组别:属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。

2.12 使用电源:220 V ± 2 %,50 Hz±1%。

2.13 连续工作时间:8小时。

2.14 消耗功率:小于25 W。

2.15 外形尺寸:380 mm(宽) X150 mm(高) X290 mm(深)。

2.16 重量: 约7 kg



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