CMI165涂镀层测厚仪是对涂/镀层进行无损检测的标准化仪器。可对不同基材上的不同涂/镀层进行精密测量,目前具有测量模式：MRX—微电阻模式.

CMI165涂镀层测厚仪特点：
● 无损测量各种金属镀层
● 精度高、稳定性好
● 测量精度可与X射线测厚仪媲美
● 可测量各种微型部件(φ2.5mm)
● 强大的数据处理能力
● 大面积LCD显示，清晰易观
● 数据存储、统计、图表分析
● 模块化操作菜单，简单易用
● 232接口，可连接电脑
● 打印并口，可直接连打印机

CMI165涂镀层测厚仪技术参数：
● 自动温度补偿，底材修正
● 操作软件可供7种语言选择
● 可存储5000个读数，校准及系统参数
误差:±3%
分辨率:0.1um
zui小曲率半径:1.2mm(凸)；1.5mm(凹)
zui小测量面积:φ2.5mm
zui小基体厚度:0.35mm
显示:6位LCD数显
测量单位:um-mils可选
校准方式:精密两点校准
统计数据:平均值、标准偏差、 zui大值max、zui小值min
接口:232串口,打印并口
电源:AC220
仪器尺寸:290x270x140mm
仪器重量:2.79kg