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YP-N系列电子工业天平
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面议
JA2603B电子精密天平|JA2603B电子天平
面议仪器基于固体颗粒的离心沉降和光透射原理测定颗粒的粒度大小及分布，采用变速测定方式，使1次测量的粒度范围比大于20:1。
WQL粒度仪性能指标：
转速范围：600～10000r/min
光信号稳定性：0.2%/30min
可测粒度范围：0.01～60μm
测试准确度：5％ （使用原上海测试技术研究院所提供的二氧化硅标样）
深圳赛泽尔电子有限公司
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