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YP-N系列电子工业天平
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面议SGW X-4A显微熔点仪|SGW-X-4A显微熔点仪应用范围：
SGW X-4A显微熔点仪|SGW-X-4A显微熔点仪测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示zui小值：0.1℃
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