德国Instrument Systems TOP 200 光学探头/辐射亮度测量探头/光谱仪配件-北京菁美瑞科技有限公司手机版

详细介绍

TOP 200 光学探头基于普里查德式光学设计，带有集成式取景相机。

TOP 150 是具有单孔径的低成本替代产品。

测得的辐射强度由 TOP 200 通过多模光纤耦合到光谱仪中。Instrument Systems 的ZL模式混合器可确保光纤中的光透射均匀，即使光纤位置改变，也可产生可重现读数。

普里查德原则支持在测量过程中观察视场，并监控视场进行准确定位。取景相机的图像由 SpecWin Pro 软件自动导入并与读数一起保存。

型号	描述
基本规格和光纤
TOP200-100	光学探头的基本规格，带多模光纤和光纤束连接器（无镜头和光纤）
TOP200-203	带模式混合器和 PLG 适配器的多模光纤（长度为 2.3 mm）； 300–2200 nm
TOP200-204	带模式混合器和 PLG 适配器的 UV 多模光纤（长度为 2.3 mm）； 190–1350 nm
TOP150-100	基于Pritchard光学原理的基本伸缩光学探头，具有单光圈和集成取景器摄像头（不含镜头和光纤）
镜头和微距镜头
TOP100-308	定焦镜头 28 mm；F/2,8； 370-1100 nm
TOP100-311	定焦镜头 60 mm；F/2,8； 370-1100 nm
TOP100-322	定焦镜头 105 mm; F/4,8; 200–800 nm

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用于辐射和亮度测量的一体化系统 DTS140D NVIS 通常包含以下部件：

部件	描述
光谱仪	CAS 140D 光谱范围为 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。
光学探头和镜头	用于 4 种测量点大小的带机动孔径轮的 TOP 200 光学探头，具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校准摄像头和 HRL90 镜头。提供更多焦距选择。
校准	光谱辐射和亮度校准，可追溯至国家标准 PTB 或 NIST。包括 MIL 证书。
软件	SpecWin Pro 实验室软件，具有各种功能和特殊 NVIS 评估模块。
杂散光矩阵（可选，不属于 MIL 测试必需配置）	杂散光矩阵（可选，不属于 MIL 测试必需配置）
辐照度光学探头（可选）	用于依据 SAE ARP5825（外部照明 NVIS 友好型）标准进行测量
定位器（可选）	手动或全自动定位器/测角仪，例如 DTS 500