比长仪的概述：

比长仪是以不接触光学定位方法瞄准被测长度，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具

一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件，并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，与被测长度比较而确定量值。主要用于检定线纹尺，测量分划板上的线距和物理、天文类照相底片上的光波谱线距离，也可用于测量孔径。

分类：

按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向采用线纹尺作为已知长度，且结构设计符合阿贝原则，称为阿贝。测量时,先用测量显微镜瞄准被测线条，从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台，再用测量显微镜瞄准另一被测线条，从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。

横向的被测长度和已知长度是并列布置的，这种布局可以缩短导轨长度，但要求导轨精度高。采用爱宾斯坦光学系统,可以补偿结构不符合阿贝原则而产生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者，称为光电；采用激光或其他单色光波长作为已知长度者，分别称为激光和光电光波。阿贝的测量精确度为±1～±1.5微米/200毫米，光电可达到±0.5微米/1000毫米，而光电光波和激光则可达到±0.2微米/1000毫米。

结构特点：

是由刻度盘1、千分表2、上测头3、90°V型槽支架4、下测头5、标准杆6、底座等组成。它具有使用方便、测量精度高、速度快、读数清楚等优点。为了满足用户的使用要求，支架采用V型槽式，上下测头采用平面测头，这种方法提高了测量精度和准确性，可供广大用户试验检测用。