手持式漆膜测厚仪价格MC-2010A高精度涂层测厚仪别名：

MC-2010A涂层测厚仪，MC-2010A电镀层测厚仪，MC-2010A漆膜测厚仪，MC-2010A数显涂层测厚仪，MC-2010A高精度涂层测厚仪，MC-2010A磁性法涂层测厚仪，MC-2010A漆膜厚度测量仪，MC-2010A油漆厚度测量仪，MC-2010A镀铬层厚度测量仪

手持式漆膜测厚仪价格MC-2010A高精度涂层测厚仪产品简介

MC-2010A型涂（镀）层测厚仪是*的结晶。涂层测厚仪采用单片机技术，测量精度高、数字显示、操作简单方便、触摸按键、内置探头全量程测量、体积小、重量轻; 强大的抗*力，求值更稳定；且具有低电压指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已达到当代同类仪器的*水平。 MC-2010A涂层测厚仪是一款经济型通用涂层测厚仪，其产品优势为：性能与进口测厚仪性能一样好，操作简单，测试速度快，灵敏度好，测量精度高。

   MC-2010A涂层测厚仪可应用在无损、快速和高精度涂镀层测厚领域。它是油漆、防腐蚀、电镀、汽车工业、轮船运输、飞机制造等相关行业理想的辅助制造生产工具。它可以稳定地工作于实验室，车间现场和户外。

   我公司具有20年的测厚仪专业研发生产经验，力求给您zui的品质体验。MC-2010A涂层测厚仪为内置测量探头，该涂层探头的探点加入一种PIONEO超硬涂层，用于强化表面，其厚度仅为1毫米的千分之几，但却有超乎想象的高强硬度和高耐磨性。这种全新的深层技术已经嵌入到部件中，其测量误差、耐磨性比其它同类仪器又提高了一个档次。

MC-2010A型涂层测厚仪工作原理

MC-2010A型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。

MC-2010A型涂镀层测厚仪应用范围

本仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

二、MC-2010A型涂镀层测厚仪产品性能

MC-2010A型涂镀层测厚仪技术参数

1、测量范围：0~1200um

2、测量误差：<3%±1um

3、zui小示值：1um

• 4、显示方式： 4位液晶数字显示

5、主要功能：

   (1).测量：内置探头全量程测厚

   (2).统计：设有三个统计量：平均值、zui大值、zui小值

   (3).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准

   (4).电量：具有欠压显示功能

   (5).蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示

   (6).关机：具有自动关机和手动关机两种方式

6、电源：  两节1.5v电池

7、功耗：  zui大功耗90mw

8、外形尺寸：112mm*44mm*25mm

9、重量：    100g(含电池)

10、使用环境温度：　0℃~+40℃  相对湿度：不大于90%

11、基体zui小厚度： 0.5mm

12、基体zui小平面的直径： 7mm

13、zui小曲率半径： 凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠电压指示：   右上角显示＂＂

*临界厚度值：工件铁基厚度大于1mm时，其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度影响。

三、MC-2010A漆膜厚度测量仪电镀层测厚仪配置单

 1、涂层测厚仪MC-2010A                  一台

 2、1.5v电池 (7号)                      二节

 3、标准样片              一盒

 4、标准铁基                            一块

 5、小铝箱                              一个

 6、说明书、合格证                      一套 

影响测量准确度的因素有以下几种：

a 基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

b 基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c 基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

d 边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

e 曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f 试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

g 表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

g 磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

h 附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

 测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。