I试片
定量品质试片
（I）是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片，I试片用于
1.将激磁次数降至zui少，以提高生产效率
2.确定磁场方向和相对的磁场强度
3.平衡多向磁场

a）标准I试片
缺陷呈基圆和十字交叉条形，适用于纵向和周向磁场
件号：519630   型号：KSC-230
件号：521048   型号：KSC-430
说明：
标准I试片，缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸标准I试片，缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.004英寸

b）小型I试片
与KSC-230相似，于工件上的小区域，每片四个圆，可切割开，单独使用
件号：519631
型号：KSC-4-230
说明：小型I试片，每片试片有4个基圆，缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸

c）不同深度的I试片
用于定量要求更高的作业，缺陷呈三个不同深度的同心圆环
件号：519632  型号：KSCT-234
说明：不同深度I试片，缺陷深度分别为试片厚度的20%，30%，40%，试片厚度为0.002英寸，试片背面带胶，可直接贴在工件上

件号：521049  型号：KSC4-234
不同深度I试片，缺陷深度分别为试片厚度的20%，30%，40%试片厚度为0.004英寸