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日立X-Strata920X射线荧光仪 X射线仪器
¥370000日本日立新型EA1400VX型X射线荧光光谱仪 X射线仪器
¥800000日立HM1000热电离质谱仪
面议日立DMA7100动态机械分析仪
面议日立TMA7100和TMA7300热机械分析仪
面议日立STA7200RV和STA7300
面议日立DSC7020和DSC7000X差示扫描量热仪
面议FT150、FT150h、FT150L日本日立X射线荧光镀层厚度测量仪
面议荷兰Skalar BluVision(TM)全自动间断化学分析仪
面议荷兰Skalar机器人分析仪
面议荷兰Skalar San++连续流动析分仪
面议SKALAR Primacs SN100杜马斯定氮仪
面议日立X-Strata920镀层测厚仪
使用X射线荧光(XRF)进行的镀层厚度测量是经过证明的快速的无损分析技术,X-Strata920设计为面向电子产品和金属表面 处理,测量单层和多镀层(包括合金层),应用专家对 X-Strata920 进行了进一步升级, 确保获得可靠、可重复结果,满足数百种应用,包括 PCB 表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面 处理、耐磨损处理、耐高温处理等。
X-Strata920这一出色的工具可确保样品符合规格,同时通过避免过度电镀和返工来降低成本。操作员只需加载样品,将其定位在屏幕上的目标下方,使用激光焦点对齐,即可开始测量。结果在几秒内即可显示出来,然后操作员可快速执行下一个任务。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式,您将对结果的准确性充满信心。
使用X-Strata920可遵从各种行业规范,如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。