KVP表及曝光时间表(电压、曝光时间表)

Model 815 型KVP表及曝光时间表(电压、曝光时间表)

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-04-17 04:24:42
568
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产品简介

美国Ecc公司 Model 815 型x射线kvp表/暴露时间测量表,它是测量钨发射出来的x射线的Z大或峰值输出电压的。测量范围:45 -125 k 北京华瑞森科技发展有限公司,中国区域销售:美国Ecc公司 Model 815 型x射线kvp表/暴露时间测量表,它是测量钨发射出来的x射线的Z大或峰值输出电压的。 Ecc Model 815是一个专门为个人测量x射线强度的稳定,V

详细介绍

KVP表及曝光时间表(电压、曝光时间表)
     产地:美国ECC

    北京华瑞森科技发展有限公司,中国区域销售:美国Ecc公司 Model 815 型x射线kvp表/暴露时间测量表,它是测量钨发射出来的x射线的zui大或峰值输出电压的。

        Ecc Model 815是一个专门为个人测量x射线强度的稳定,数字仪器,这个仪器不仅仅用在x射线加速电压,而且用在测量暴露时间长短上。 两种功能在仪器上可以kv的形式检查。
一般操作说明
开关设置
为了保持操作简单和直接明了,仪器本身只有两个开关在前面板。
开/关 按钮
开/关 按钮
开/关按钮是用来开关仪器的,开关是鲜艳的绿色,当仪器开着的时候它的灯将变为亮绿,当仪器不用的时候记得关闭按钮以便保存电池电量。
调节开关
调节开关有两个功能:
1, zui初开关打开,仪器转换到“高分辨率”模式。
2, Kvp读数得到后,按下这个调节开关将提供额外信息。
一, 高分辨率/高速度调节模式
当仪器*次打开时,他上面会提示“通用”(normal)或“高速度”(High Speed model)模式,当使用“通常”模式时815表测量x射线时间为100ms(0.1秒)按下按钮一次将会使仪器处于“高分辨率”模式(High Resolution)下,x射线暴露取值时间不少于200ms(0.2秒)当要使用高速度模式(High Speed model)时x射线暴露时间至少要100ms(1/10秒)当在高分辨率模式下使用仪表时,暴露时间必须达到至少200ms(0.2秒)
当仪表设置在高分辨率模式下时,他将保持在高分辨模式下知道它被关闭,要想在高速度或通用模式下使用时,先关掉电源然后再打开,在关于使用高分辨率操作的说明在以下的章节有更详细的说明。
二, 附加信息显示
测量过后,kvp值将会显示。附加信息将会随着按钮按下瞬间显示,仪表将会接着显示下面的信息:
● 波形类型
● 暴露时间
同时返回到kvp方式。
波形类型和暴露时间将会依次在1.2秒的时间里显示,附加信息显示完毕之后,显示将会回复到kvp模式,这时表将会为下次读数做准备。如果电池电量太低则“电量低”(“Batt low”)信息提示也会在1.2s内显示。
操作
Kvp测量
为了使用Model 815型x射线表进行kvp测量,在很多的情况下它只须打开这个仪器就可以直接测量。但是要把检测的目标放在灯的中心位置,这样就可以检测到暴露值。
为了保证得到精确的读数以下几点要记住。
1、 电流(mA)
当Model 815 所测的目标在合适的位置则它的操作精度减少到70mA,的精度是在10mA到50mA之间得到。
2、 高度
对于半波x射线在7到15mA输出范围内,它的锥形波形应该在高于仪器1/2到2英寸处对于x射线在25到100mA输出,把仪器放在仪器上方8到16英寸处(1英寸=2.540cm)
3、 校准(collimation)
X射线校准要以2″每次地向目标中心移动。
4、 暴露时间
它有两种模式需要不同的暴露时间。
在“通常”或“高速”模式下暴露时间必须至少在0.1秒(100ms)
仪器可在100ms暴露时间里测到kvp值,为了减少顶部的磨损破裂和在射线下操作。暴露时间大于100ms是没有必要的,当仪器用于测量暴露时间,稍微长一点的暴露是允许的。
在高分辨率模式下x射线曝光时间至少在0.2s(200ms)仪器在*个200ms时间之间测得kvp值为了减少顶部的磨损和破裂,在射线下操作。暴露时间大于200ms是没有必要的。当仪器用于测量曝光时间时,长的暴露时间是允许的。
5、 波形
这个仪器在测量zui大值或峰值加速电压时为了使x射线的稳定一般要求x射线暴露时间在30ms时间以外应该再稍有延迟。仪器将会在剩余的时间里显示x射线暴露的加速电压的峰值。
6、 初始化读数
当x射线检测器不使用时它会积累电荷,当初始化开关打开时,仪器需要一条射线束才能准确地工作。
暴露时间测量
815型kvp表在测量暴露时间时kvp值也会被测量到,为了显示测量后暴露时间按一下白色的按钮,暴露时间将会在显示屏上以ms为单位显示结果。在“通常”或“高速”模式下,曝光时间小于100ms则不能测量。X射线暴露时间至少在100ms如果要求测量曝光时间在100ms以内的请致电去购买8700型数字x射线表。
当仪器在高分辨率模式时,暴露时间少于200ms是不能被精确地测量到结果的,x射线暴露时间至少在200ms,我们*您使用通用模式对暴露时间进行测量。
更准确的暴露时间在低的kvp/mA设置处得到,很多的高能量x射线曝光时间会因为显著的衰变使得曝光时间延长,我们主张在50到80kv、25到50mA的范围内测出暴露时间的测量。
高分辨率 

    K815型表是一个为了减少对x射线头的损坏而专门设计的精密测量仪器,但是它有三种情况可以在较长时间里得到x射线的精确波形样图。
低能量-当kvp的值在60kvp时,精确的读数可以通过设置x射线的曝光时间200ms和在高分辨率模式下提高。
一些x射线检测仪特别是老式的仪器在很长一段时间里才能检测到x射线的暴露峰值,在通用模式和高速度模式下仪器会在开始测量时间前等待30ms的时间,这个等待时间,在高分辨率模式下加倍,并且实际测量时间也加倍。
一些直流和多相电子束运动非常迅速,然而它有很大的过冲,如果过冲时间大于30ms在高分辨率模式下将会得到真实的kvpzui大值的精确读数。
以下是仪表显示的提示信息的具体描述。
Rdy Fast-Unit 在快速模式下读数
Rdy Hires 准备在高分辨率模式下测量
AlignErr-Alignment Error 把815型表放在x射线处,开始测量
OverRng X射线输出值太高,减少其值或增加射线源到815表的距离。
Overscale 输出射线超过815表的测量范围
Low Batt 电池电量低,这时仪器可以继续工作几小时但是精度会有影响,请快换电池。
滤除因子
815型kvp表有一个为钨管x射线仪校正的1.5mm厚的铝制过滤装置,当x射线有不同的过滤装置时,请根据下表提到的数字在读kvp值时适当调整。
Added filtration (增加的过滤器) 60kvp 80kvp 100kvp 120kvp
0.5mm -0.2 -0.5
1.0mm -0.4 -0.9 -1.1 -0.6
例如你的x射线过滤装置为2.5mm的Al,也就相当于增加的过滤装置的厚度为1.0mm当读能量约为60kvp的射线值时将会高出0.8kvp。减去0.8kvp就得到正确的读数。
这个值也可以是其中间的某一个。如: 当检测的射线能量在70kvp时,在0.5mm增加过滤装置时(共2.0mm)使用校正因子在0.3到0.5之间的值即0.4,也就是说,当测量70kvp能量射线在过滤装置在0.2mm Al时应在读数基础上减去0.4kvp。
当射线能量在55kvp以下时这个校正因子非常小可以忽略不计。

测量范围:45 -125 kV

精度:2% +/- 1 kV

 在 25 至 100 mA的时候

尺寸:150 x 120 x 58.5 mm 

重量:0.7 kG (1.5 lb)

 

北京华瑞森科技发展有限公司

北京通州区通州工业开发区光华路16号方和正圆大厦A座2楼

/:(直线)(总机)     

:     

:101113

: huarui51266093

http://www.huaruison.com

 

 

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