技术规格 *工作原理:采用X射线荧光(XRF)技术进行多元素分析 *探 测 器:高性能、高分辨率Si-Pin X射线探测器,Peltier效应半导体制冷 *硬件系统:日立SH-4 CPU ASICS高速数字信号处理器 4096像元微通道结构 *充电电池:电池满充电可连续工作8-12小时 *显 示 器:带背光的视频图形阵列(VGA)触摸屏LCD,显示分析时间,合号,成分百分比含量和分析误差值(2倍sigma误差) *分析范围:从22号元素钛(Ti)到83号元素铋(Bi)中,23个标准合金成分元素。选配充氦装置可以分析Mg,Al, Si, P。非标准元素亦可能分析,需根据具体情况协商确定 *工作模式:(1)合号鉴别与成分分析模式;(2)标识匹配鉴别模式;(3)超级成分分析模式 *数据存储:6000个以上的测量数据及其X射线谱图 *仪器重量:1.4公斤 *仪器尺寸:248×273×95mm(L×H×W) *激 励 源:低功率35kV/1.0W银阳极靶X射线管 *工作条件:环境温度-20℃-50℃ *安全特性:操作密码保护,防止非人员使用;仪器断电或故障时,快门自动关闭;快门打开或X射线管工作时,仪器四周LED指示灯闪烁 *标准附件:带锁的防水手提箱,携带用仪器保护套,备用充电电池及护套,110v/220v通用充电器,PC机连接电缆,NDT软件,仪器手腕安全系索,仪器检查、验证用合金标样,使用手册 分析范围 *激 励 源:X射线管 *分析元素:Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Zr Nb Mo Sn Hf Ta W Re Pb Bi Se Sb 应用范围:各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金、铜合金、青铜、锌合金、钨合金等;可通过对其它合金元素的测定,实现对铝、镁轻合金的牌号鉴定。 XLt的特点 *真正实现在现场对被检材料进行无损的快速检测 *仪器直观显示合号和元素成分百分比含量 *用户可以自行编辑合号库和添加合号 *仪器无需外接PDA,一体化程度更高,抗电脑病毒,防尘防水能力强,操作便捷 *可选蓝牙附件实现与计算机的无线通讯 *随机配置NDT软件,可进行数据上传或下载,可编辑、输出PMI分析报告,可实现PC机远程控制 *自动存储6000个以上的分析数据和谱图 *不含放射性同位素激励源 *外型优雅、握在手中很舒适 *高强度、高密封性设计,防溅水,抗冲击性好 *采用尼通技术的高速电子部件,延长了电池工作时间,通常充满电后,可轻松完成2000点(10秒/点)以上的测试 *一体化触摸屏,用户界面、直观,操作方便 *具有热交换功能的充电电池,允许长时间连续工作 *一体化条形码扫描器,数据输入快速,简便 *更快的分析速度,接近实验室水平的分析精度 *较少的校准需求,多种可选的分析模式 *具有机内自动诊断和故障报告功能 *可通过Internet实现软件升级 |