(LQS)两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号:M403918

(LQS)两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号:M403918

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(LQS)两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号:M403918 1、配有双数字表:一块数字表在测量显示电压的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测过程中的电流变化,使操作更方便,测量更精确。

详细介绍

(LQS)两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号:M403918 (LQS)两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号:M403918 (LQS)两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2库号:M403918

两探电阻率测试仪(测硅芯) 型号:CN61M/KDY-2

库号:M403918   查看hh

midwest-group
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CN61M/KDY-2型两探电阻率测试仪(以下简称两探仪)是按照我国标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会(ASTM)的材料验收检测方法“两探法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型,方型或矩形单晶锭(如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等)的电阻率,测样长度与截面大尺寸之比应不小于3:1。由于两探法的测量电流是从长棒两端进出,远离电压测量探,因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应(如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等),对测量的影响较小,测量结果为横截面的平均电阻率,两探法的测量精度一般优于四探法。
整套仪器有如下特点
1、配有双数字表:一块数字表在测量显示电压的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测过程中的电流变化,使操作更方便,测量更精确。
数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV 输入阻抗:1000ΜΩ
基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)
2、可测电阻率范围:0.001—10000Ω·cm。
3、测量电流由高度稳定(万分之几精度)的恒流源提供,不受气候条件的影响。
电流量程分五档:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。调节范围从0.001~100mA
4、仪器采用触点电阻更低(<5mΩ)、使用寿命更长的转换开头及继电器(>10万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。
5、可加配HQ-710E微处理机及打印机,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率大值、小值、大百分变化率、平均百分变化率等内容。
6、可加配电,实现数据采集、自动换向测量、求平均值,计算、存储并打印电阻率大值、小值、大百分变化率、平均百分变化率等内容。

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