涡流测厚仪

ED400涡流测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-06-30 19:09:22
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北京时代瑞光科技有限公司

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产品简介

ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

详细介绍

ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。
      仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。
      仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查, 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
      仪器符合标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

      天星涡流测厚仪自1993年开始生产以来,伴随着我国铝加工行业的成长,其自身也在不断改进和提高,目前,已生产了ED200型、ED300型和ED400型三代产品, ED400型是一代产品,其产品质量和测试精度达到国外仪器水平,其耐用性非常突出,超过国内外仪器。天星测厚仪以良好的质量,及时、优质、低费用的售后服务得到用户的广泛赞誉和认可,天星测厚仪在铝型材行业的*超过90%,成为该行业的产品。

 

仪器特点

       
ED400型与ED300型相比,具有如下特点:

 

﹡ 量程宽   ED400型量程达到0~500μm。

﹡ 精度高   测量精度达到2%。
﹡ 分辨率高   分辨率达到0.1μm。
﹡ 校正简便   只校正“0”和“50μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。
﹡ 基体导电率影响小   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于1~2μm。
﹡ 可靠性提高   采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。
﹡ 稳定性提高   采用*的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
﹡ 探头芯寿命长   采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。

 

技术参数

测量范围:     0~500μm
测量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分 辨 率:      0~50μm:0.1μm;
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可选)
使用温度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     280g

 

 

标准配置

主机            
探头            
基体(6063铝合金)
校正箔片   一套4片(附检测报告)
仪器箱

可选附件

备用探头
基体
校正箔片(附检测报告

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