万深检测公司与中国水稻所合作，历经4年研究开发的SC-E型大米检测分析系统。zui近，其提出实现的图像法已获批准为*新标准【大米】 NY/T 2334-2013。系统结合国家标准完成对稻谷和大米质量指标的自动检测，可代替人工对外观品质指标进行准确客观的评价，适用于科研院所、检测单位、粮食流通企业、加工企业等。已先期获得了近50家科研机构与大米生产厂家的良好使用和认可，该仪器的分析度、稳定性均达到的高度。

　　SC-E可自动分析种子大米的各类主要外观指标，单次检测量在30g大米样品以上，对透扫成像的大米可自动分析：数粒、粒形、碎米率、整精米率、透明度、精度、垩白粒率、垩白度等。对反射稿成像的大米可自动分析：数粒、粒形、碎米率、黄米粒、异品种和杂质等，并实现分类分析。被检测的大米不需要特定排样，由系统的算法自动分割开，允许修正各类结果以确保100%正确。分析时间每样品约1分钟，各项分析误差均控制在1～2%以内。具有大批量自动处理特性，一键式的自动分析，非常方便普通人员上手使用，检测分析结果和每粒的详细结果均可导出至EXCEL表。