随着单片机技术的发展，1978年，瑞士人Leeb博士提出了一种全新的测硬方法，它的基本原理是具有一定质量的冲击体在一定的试验力作用下冲击试样表面，测量冲击体距试样表面1mm处的冲击速度与回跳速度，利用电磁原理，感应出与速度成正比的电压。里氏硬度值以冲击体回跳速度与冲击速度之比来表示：
计算公式：HL=100×（VB/VA）
式    中：HL——里氏硬度值
          VB——冲击体回跳速度
          VA——冲击体冲击速度