提篮式冷热冲击试验箱又名温度冲击试验机（高低温冲击试验箱）适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料，测试各种材料对高、低温的反复冲击能力。检测产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害，确保产品的品质。

一、主要功能特点：

  1、采用两箱法，缩短了试样的温度恢复时间 ；

  2、采用两箱法，缩短了试验时间；

  3、大幅度地降低了试验区移动时对试样的振动冲击 ；

  4、具备常温恢复功能，可在试验后安全取出试样；

  5、能容易进行用于测量试样和外加电压的电缆配线作业。

二、构造特点：

  1、箱体材质:采用优质碳素钢板，表面作静电彩色喷塑处理；

  2、保温材质：优质超细玻璃纤维棉；

  3、内胆材质：进口SUS304不锈钢板，耐腐蚀、易清洗、美观大方；

  4、密封条：温度冲击试验箱门与箱体之间采用双层耐高温之伸张性密封条以确保测试区的密闭；

  5、观察窗:在上箱体（高温箱）大门上开一个350×250mm电热镀膜防潮隔温观察窗；

  6、测试孔：在样品架的上部与高温试验箱体顶部设置有滑动式电缆穿线管；

  7、样品架:上下移动滑轨导的不锈钢样品架。采用双作用力汽缸提供平稳均匀的动力，样品架的定位装置采用德国FESTO公司产间接式电传感器。

三、执行标准：

  1、GJB150.5A-2009温度冲击试验；

  2、GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验；

  3、GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971温度变化试验导则；

  4、GJB360B-2009温度冲击试验；

  5、GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 低温试验方法；

  6、GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 高温试验方法；

  7、GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件；

  8、GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件。

四、提篮式冷热冲击试验箱技术参数与规格型号：

五、维护冷热冲击试验箱需要注意以下几点：

  1、定期清洁温度测试室和低温测试室，防止灰尘和脏物对测试结果的干扰。

  2、定期检查试验箱的各项功能是否正常，例如加热装置、制冷系统、湿度控制器、温度传感器和控制器等。

  3、定期保养试验箱内部组件，例如加热元件、冷凝器、蒸发器等，以确保其正常运行。

  4、定期校准温度传感器和控制器，确保测试结果的准确性和可靠性。

  5、注意试验箱的安全问题，例如接地线的正常连接、温度测试室和低温测试室的密封性等，以确保操作人员的安全。

  6、按照试验箱使用说明使用试验箱，不要超过其额定负荷使用，否则会影响测试结果，甚至影响试验箱的寿命。