MJLD型吸收率和法向发射率测量装置



　　产品介绍
　　MJLD型吸收率和法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体，配有计算机和工作软件，实现自动测量的*测量设备。本装置是由国防航天*科技企业和航天*专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内*，*国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。

　　产品技术指标
　　法向发射率
　　测量范围：0.05～0.99；
　　工作温度范围：-30～80℃；
　　测量不确定度：当εn＞0.7 为±1.5％；当εn＜0.2 为±5％；其余为2％；
　　探测器：平面热电堆；
　　峰值波长：8.4～11μm；

　　吸收率
　　测量范围：0.02～0.99；
　　工作温度范围：-30～80℃；
　　测量不确定度：当αs＞0.8 为±2.0％；当εn＜0.2 为±4％；其余为2.5％；
　　积分球直径：Φ150；
　　光源高色温：220V300W；
　　探测器：真空平面热电堆；
　　工作波长：0.35～2.5μm；
　　用途
　　测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。

：

:bjmjld

: