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面议本仪器是一种*的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的智能型仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强,测试时间短等优点;另外,本仪器针对电容式电压互感器(CVT)试验困难的特点,增设了自激法测试,无需外接标准电容器、调压器,使得测试非常简单可靠,是我公司的第四代智能型介质损耗测试仪。
扬州品胜电气科技有限公司*
http://www.yzpsdq.com
PSJSC-B介质损耗测试仪技术指标
1、环境:-5℃~40℃(液晶屏应避免长时间日照)
2、相对湿度:30%~70%
3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±Hz
4、外形尺寸:长*宽*高=435mm*300mm*300mm
5、重量:20kg
6、输出功率:1KVA
7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位)
8、测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法、自激法
9、测量范围:内接试验电压:≤60000PF
外接试验电压:由外接试验变压器输出功率而定
10、基本测量误差:
介质损耗(tgδ):2%±0.09%
电容容量(Cx):1.5%±2pF
数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器外壳地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。
PSJSC-B介质损耗测试仪使用方法
★★★安全操作注意事项
1、使用时必须将仪器接地端子可靠接地。
2、只有关闭仪器电源,试验电压选择开关置于“关”位置时,接触仪器的后部及其测量线缆与被试品才被试品才被认为是安全的。
3、仪器在测量时,严禁操作“试验电压”选择开关。
4、正接线法UH端为高电压,反接线法IX端为高电压,使用时必须根据实际情况,将带高压的线缆与地保持足够的距离,特种电缆在试验电压低于10KV时除外。
5、不得更换不符合面板指示值的保险丝管,(内部一只保险丝为0.5A)
6、使用时尽可能用厂家随仪器提供的线缆以确保测量准确度。
7 7、操作键盘
自激-------自激电压选择。
快测-------快速测量,无抗干扰功能。
抗扰-------抗干扰测量。
正接-------正接法测量。
打印-------在测试结果出来后,打印测试数据。
反接-------反接法测量。
起动-------起动高压,开始测量。
外接-------外接法测量。也用来选择外接标准电容的容量。
停止-------可以在测试过程中,中断测量。
打开电源,仪器首先自检 (显示屏、光电通讯、内存、操作键、数模转换、电网频率),自检通过后,进入主目录。这时按屏幕提示即可完成测试。
进入测量状态后,用户随时可用“停止”键退出测量状态。
做正、反接测量时无须人工干预,测试线的接法与仪器操作测量方式相符,如使用正接法的接线方式,测试时,按“反接”键测量,也能得出结果,但该结果不真实可靠。
做外接方式测量时,中途会显示“请关闭外接高压!”并停一下,等候人工将外加高压关闭,关闭外高压后(必须关闭外高压),再按一次“起动”键才能完成测试。
如果外高压未关闭,则测试结果不真实。
外接标准电容的容量选择:
“外接方式”时,按一次“外接”键,则显示的外接标准电容容量“XXXXpF”将改变,共八种容量供选择(zui后一种为厂家调试用,用户使用则无效)。
50pF,100pF,150pF,200pF,500pF,1000pf,XXXpF,XXXpF.
应选择与外接标准电容相等的容量。如果使用的外接电容量特殊,可请生产厂家将该电容容量输入仪器中。如果选择的外接电容与实际不相等,则测量结果会受影响。
PSJSC-B介质损耗测试仪仪器成套性
(1)介质损耗测试仪 1台 | (4)电源线 1根 |
(2)测试线缆 1套 | (5)使用说明书 1份 |
(3)保险丝(5A) 4只 | (6)产品合格证 1份 |
六、保管及免费PSJSC-B介质损耗测试仪修理期限
仪器应在原厂包装条件下,于室内贮存,其环境温度为-20℃~40℃,相对湿度为30%-70%,且在空气中不应含有足以引起腐蚀的有害物质。仪器从冷环境突然到热环境中时,可能有结露消失再使用。每年应打开仪器,清除由于野外作业产生的灰尘,特别是内部标准电容处的灰尘。
仪器和附件自制造厂发货日期起18个月内,当用户在*遵守制造厂使用说明书所规定的保管、使用条件下,发现产品制造质量不良或不能正常工作时,制造厂负责给予修理或更换。
PSJSC-B介质损耗测试仪工作原理
仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,如图三所示。
标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品电容容值(CX)和其介质损耗(tgδ)。