M2 BLIZZARD-开槽台式微区XRF光谱仪M2 BLIZZARD-铂悦仪器（上海）有限公司广州办事处手机版

详细介绍

开槽台式微区XRF光谱仪M2 BLIZZARD

M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。

采用开槽设计，非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。

该仪器采用全新的、世界的XSpect Pro软件进行控制。

PCB 分析的理想解决方案

主要特性：

技术参数

M2 BLIZZARD的两种探测器选项。可选用比例计数器（PC）或高分辨率硅漂移探测器（SDD）

参数	规格
激发	微焦点，高性能，带侧窗，钨靶
高电压	50 kV，50W
探测器	大面积正比计数器，感应面积1100 mm ²，能量分辨率 < 950eV （Mn-Kа）
选配探测器	高性能Peltier冷却XFlashR硅漂移探测器，感应面积30mm2，能量分辨率 <150 eV （Mn-Kа）
光斑尺寸	固定或4个自由切换，?0.1到1.5mm 其他准直器：例如槽式
样品视图	高分辨率彩色摄像系统，放大倍数~20倍
样品台	手动塑料样品托盘 Z轴自动聚焦，行程: 30mm
定量分析	总体分析：基于标样的经验系数法模式，无标样的FP法（基本参数法）模式镀层分析：FP-基本参数法模式
供电	110/230 VAC，50/60 Hz，zui大功率120W
尺寸（宽x深x高）	1055 x 688 x 430 mm
重量	75kg

依据 ASTM B568 和 DIN/ISO 3497 标准进行分析