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开槽台式微区XRF光谱仪M2 BLIZZARD
M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪， 依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。
采用开槽设计，非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。
该仪器采用全新的、世界的XSpect Pro软件进行控制。
PCB 分析的理想解决方案
主要特性：
技术参数
M2 BLIZZARD的两种探测器选项。 可选用比例计数器（PC）或 高分辨率硅漂移探测器（SDD）
参数 | 规格 |
激发 | 微焦点，高性能，带侧窗，钨靶 |
高电压 | 50 kV，50W |
探测器 | 大面积正比计数器，感应面积1100 mm 2， 能量分辨率 < 950eV （Mn-Kа） |
选配探测器 | 高性能Peltier冷却XFlashR硅漂移探测器， 感应面积30mm2，能量分辨率 <150 eV （Mn-Kа） |
光斑尺寸 | 固定或4个自由切换，?0.1到1.5mm 其他准直器：例如槽式 |
样品视图 | 高分辨率彩色摄像系统，放大倍数~20倍 |
样品台 | 手动塑料样品托盘 Z轴自动聚焦，行程: 30mm |
定量分析 | 总体分析：基于标样的经验系数法模式， 无标样 的FP法（基本参数法）模式 镀层分析：FP-基本参数法模式 |
供电 | 110/230 VAC，50/60 Hz，zui大功率120W |
尺寸（宽x深x高） | 1055 x 688 x 430 mm |
重量 | 75kg |
依据 ASTM B568 和 DIN/ISO 3497 标准进行分析
