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新开发的可快速响应的HT扫描器加之软件与控制系统设计的优化，成功实现扫描速度比传统设备快5倍以上。
匠心的探针更换夹具，让小心翼翼的探针更换操作变得简捷轻松。
样品交换时也可保持激光稳定照射悬臂。照射稳定性优异，分析时间也大幅度缩短。
可从不同角度放大拉伸图像进行确认。鼠标操作简单，更可进行3D断面形状分析。
按照操作指南指导操作顺序，使用导航功能直接锁定观察位置，实现了SPM的快速简便的观察
具备丰富的测定模式和优异的扩展性，可对不同硬度、不同导电性能等各式样品进行观察分析。
控制气氛扫描探针显微镜 WET-SPM
可以控制样品和周边环境，在可控气氛下进行样品处理，并直接进行SPM观察。
选配系统具有温度湿度控制单元、样品加热冷却单元、样品加热单元、吹起单元。
粒度分析软件
从图像数据中选取复数颗粒，对每一颗粒进行特征量的计算，并进行分析、显示，以及及进行统计处理。
微小部热分析试验仪器复合型SPM系统 SPM+nano-TA2（nano-TA2为Anasys Instruments公司产品）
可以进行样品表面的三维形貌观察和点的热分析。
