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美国SEI RENGER EXP外置探头射线检测仪
面议FL-ID型蓝光辐照计(SP00007033)
面议ST-86LB发光二极管光强计(SP00007034)
面议ML-91微波漏能仪
面议RJ-2高频电磁场近区场强测定仪(SP00007006)
面议FGH—1光合有效辐射计(SP00007032)
面议FZ—A辐照计(SP00007031)
面议AWA5636-4声级计(SP00007045)
面议RJ-5工频电场(近区)场强仪(SP00007008)
面议LPE-1A激光功率计(SP00007009)
面议RJ-3高频近区电场测量仪(SP00007007)
面议RJ-2A高频电磁场 (近区)场强仪SP00000188
面议主要性能指标 ※ 波长范围及峰值波长:
UV-340探头:λ:(315~370)nm;λP=340nm
※ 辐照度测量范围: (0.1~199.9×103)μW/cm2
※ 紫外带外区杂光: UV340:小于0.05%
※ 余弦特性: 符合二级光照度标准
※ 示值相对误差: ±10%
※ 响应时间: 1秒
※ 使用环境: 温度(0~40)℃;湿度<85%RH
※ 尺寸和重量: 180mm×80mm×36mm;0.2kg
※ 电源: 9V积层电池(6F22型)一只 *注:承接照度、亮度、紫外线测量、辐照计、光强计定制 承接各种光辐射测试技术开发项目