该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，准确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行分析。

• 位置和光束大小达到亚微米级精度
• 易于使用的集成软件包
• 一个软件包中包含单个和多个光束分析标准
• 可软件控制的扫描速度（更新率）
• 采用峰值-连接算法用于脉冲光束测量
• USB2或PCI接口和数字探头控制
• 12位数字化信号
• 采用ActiveX自动化与其他软件包通信
• 可选硅和锗扫描头的功率计
• 可提供硅、锗和热释电探测器

产地：美国

传感器类型：Silicon

光谱范围：190-1100 nm

狭缝尺寸：1.8 µm

孔径尺寸：3.5 mm

光束尺寸：7 µm - 2.3 mm

扫描头尺寸：83 mm

功率范围：10 nW - 10 W

通信：USB 2.0

软件：NanoScan Standard

兼容的光源：CW, Pulsed >25 kHz