正反射激光测距传感器CD33系列

• 产品品牌：奥泰斯 OPTEX
• 产品优势：1,CMOS位移传感器,外形尺寸只有半个手掌大小,±0.1% F.S.的线性精度,作为OEM设备配件
  2,CD33-L正反射型传感器适用于高反射性透明物体检测,提供RS422通信型
  3,使用UQ1-02可轻松与三菱PLC进行通信,无需I/F或通信程序
  4,内置模拟输出(4-20mA或0-10V)和2个开关量输出,无需连接控制器独立工作
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 激光位移传感器

正反射型激光测距传感器CD33系列 ●正反射激光测距，透明物体都可精确测量，精度高 ●光线照射到透明工件上时，光线会在上、下表面发生反射。通过单独检测上表面和下表面反射出的光线，可以测量出上、下表面之间的距离。 ●CD33-L系列高精度激光测距（位移）传感器，在对透明体测量时，*的自适应补偿校正算法保证了高精度，稳定可靠测量。

 激光位移传感器技术特性

●测量玻璃厚度

CD33-L□□正反射型传感器可检测玻璃表面，也可测量玻璃的厚度。

●数字亚像素处理

采用数字亚像素处理技术，可以将1个像素细分成65536个亚像素（256×256），使其线性精度比传统位移传感器提高了2倍以上。

●高精度感光度修正

高分辨率的电子快门速度为采样周期的1/485，因此有助于确保稳定的受光量峰值状态，自动优化受光量，
即使是不稳定表面亦能保持稳定检测。

●高精度

OPTEX-FA研发技术“Tri-CORE”对受光波形进行三重补偿及*化处理，实现高精度稳定测量。

●适合安装在机械手臂上工作

结构轻巧紧凑，仅重65g，安装在机械手臂上。

防护等级：IP67，高效防水。

●远程输入功能—多功能输入（MF）

MF远程输入线可实现激光关闭、外部示教、保持功能、单脉冲输入等功能。

 正反射激光位移传感器技术规格

 激光位移传感器尺寸

 激光位移传感器实例应用

检测玻璃板厚度测量及遮罩板的高度测量（正反射型激光位移传感器）

测量曝光设备上的曝光头的高度（正反射型）