MHT³微米压痕测试仪标准:ASTM E2546
根据仪器化压入测试 (IIT) 的要求,微米压痕仪非常适合于对硬度和弹性模量等机械性能的测量。它适用于块状样品和薄膜,从软材料到硬材料(金属、陶瓷、聚合物),可以进行大位移测量(1 mm)。可以根据需求添加划痕测试模式。
仪器化压入测试 (IIT) 用于测量硬度和弹性模量
- 位移-仪器化压痕:持续测量与施加的载荷和相关的位移,获得材料硬度和弹性模量
一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕
- 从小位移(几纳米)到大位移(1 mm)的压痕
- 大载荷范围(从10 mN 到 30 N)以满足样品特性的要求
- 大载荷范围 对测量粗糙表面尤为有用
高精度的位移和载荷可进行精确的微米压痕测量
- 两个独立的传感器:一个用于载荷,一个用于位移,来进行准确的计量测量
- 高框架刚度:2 x 108 N/m,更高的位移准确度
材料性能的位移曲线
- 连续多周期 (CMC) 的位移曲线:硬度和弹性模量与压入位移的关系
- 压入载荷和位移控制模式
- 可视点阵模式通过显微镜观察对样品进行多点定位测试通过
- 多个测试模式:可使用用户自定义程序根据需要设置测试参数
典型应用
- 冶金:块状金属、高载荷合金(粗糙表面)和/或显微硬度
- 聚合物的表征(块状材料和粗糙表面)
- 仪器化压痕热喷涂涂层的表征
- 涂层表面的物理特性分析
- 胶凝的机械性能
MHT³微米压痕测试仪技术参数:
载荷 |
大载荷 | 30 N |
分辨率 | 6 μN |
本底噪音 | <100 [rms] [μN]* |
位移 |
位移 | 1000 μm |
分辨率 | 0.03 nm |
本底噪音 | <1.5 [rms] [nm]* |
|
载荷框架刚度 | > 107 N/m |
标准 | ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507, ASTM E384 |
*理想实验室条件下规定的本底噪音值,并使用减震台。