Leitz Reference Xi高性能扫描测量机将Leitz高性能的扫描技术应用于新型Leitz Reference Xi，提供了丰富的测量选择：从连接自动旋转测座TESASTAR-m的LSP-X1扫描探测系统，到配备固定式扫描探测系统LSP-X3c 一直到LSP-X5，能够在配备加长探针的情况下保持高精度.在各种配置下提供一如既往的高精度 - 无论是分度还是固定式探测系统。

将Leitz高性能的扫描技术应用于新型Leitz Reference Xi，提供了丰富的测量选择：从连接自动旋转测座TESASTAR-m的LSP-X1扫描探测系统，到配备固定式扫描探测系统LSP-X3c 一直到LSP-X5，能够在配备加长探针的情况下保持高精度。

在各种配置下提供一如既往的高精度 - 无论是分度还是固定式探测系统。通过配备支持多测头的控制器，Leitz Reference Xi系列测量机还能够配备影像测头。

Leitz Reference Xi – “Xi” 代表着系统具备充分的“灵活性”。

产品特点:

• 活动桥式机构，配备获得的TRICISION™ 技术
• 高分辨率AURODUR 钢制光栅，配备自动温度补偿技术
• 花岗石工作台配以一体式燕尾导轨
• 采用预载荷空气轴承
• 可提供各种Leitz三维探测系统：LSP-X5、LSP-X3c、以及配备TESASTAR-m 的LSP-X1s/h 
• 选项：自动探针更换架

性能指标： 

Leitz Reference Xi，温度范围18 - 22°C：

齿轮检测：

圆柱齿轮：

• 直齿、斜齿、人字齿轮、花键齿轮 (内齿与外齿)
• 离合器齿轮 (内齿与外齿)
• 齿轮段 (少齿数：1)
• 齿条

锥齿轮：

• 直伞齿轮、螺旋伞齿轮、斜形伞齿轮、冠状齿轮

齿轮：

• 滚刀、拉刀、成型、剃齿刀

可提供的接口：

• Gleason GAGE 4/WIN、Klingelnberg KIMOS、bevel-gear-chain from Univ. of Aachen

评价标准：

• DIN、ISO、AGMA、ANSI、JIS、CNOMO、CAT 

 *根据探针配制与模式范围