NMV-FAM偏光片吸收轴和光学膜光轴测量仪器

光学薄膜综合测量仪采用偏振光光电探测技术对透过材料的偏振光进行高精度采集测量，从而计算出偏振材料主轴相对机械坐标的夹角，用于指导生产出符合客户要求角度的偏振材料。
对于传统偏振材料的裁切，其需求角度和裁切角度通常会有一定的偏差，有时会达到0.5°、1°甚至更大，导致后续产品的加工中造成品质差异。偏振材料不同轴角度的组合会带来输出光强的不一致，客户直观体验出现明显差异。 参考价￥288000

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