单通道紫外辐照计,双通道紫外线线强度计

UV-A单通道紫外辐照计,双通道紫外线线强度计

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2024-05-24 14:23:28
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产品简介

单通道紫外辐照计,双通道紫外线线强度计
UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

详细介绍

单通道紫外辐照计,双通道紫外线线强度计    

  UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

单通道紫外辐照计,双通道紫外线线强度计 

产品特点:

*光谱及角度特性经严格校正    *数字液晶显示,带背光

*手动/自动量程切换            *数字输出接口(USB,冗余供电)

*低电量提醒                   *自动延时关机

*有数字保持                   *轻触按键操作,蜂鸣提示

主要技术指标:

* 波长范围及峰值波长:(以下两种探测器选其一)

  (1)UV-420探头:(光谱响应曲线见附图)λ:(375~475)nm;λP=420nm

  (2)UV-365探头:(光谱响应曲线见附图)λ:(320~400)nm;λP=365nm

* 辐照度测量范围:(0.1~199.9×103) μW/cm2

* 紫外带外区杂光:UV420:小于0.02%      UV365:小于0.02%

* 相对示值误差:±10%(相对与NIM标准)

* 角度响应特性:±5%(α ≤10°)

* 线性误差:±1%

* 换档误差:±1%

* 短期不稳定性:±1%(开机30min后)

疲劳特性:衰减量小于2%

* 零值误差:满量程的±1%

* 响应时间:1秒

* 使用环境:温度(0~40)℃,湿度<85%RH

* 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg

* 电源:常规使用6F22型9V积层电池一只

                     亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电

                     整机功耗         <0.1VA

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