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达高特MX-3/MX-5/MX-5DL超声波测厚仪
面议达高特DAKOTA PX-7/PX-7DL高精密超声波测厚仪
面议达高特MMX-6DL/MMX6DL超声波测厚仪
面议美国DeFelsko公司PosiTector 200超声波涂层测厚仪
面议美国DAKOTA达高特新一代精密型超声波测厚仪PZX-7和PZX-7DL
面议美国达高特DAKOTA ZX-3/ZX-5/ZX-5DL超声波测厚仪
面议美国DAKOTA达高特ZX-6和ZX-6DL超声波测厚仪
面议美国GE超声波测厚仪DM5EBasic/DM5E/DM5EDL
面议美国Olympus超声波测厚仪38DL Plus奥林巴斯
面议美国Olympus奥林巴斯27MG/45MG超声波测厚仪
面议韩国京都磁粉探伤仪MP-A2L/MP-A2
面议美国磁通Y-1/Y-7/Y-8磁粉探伤仪交流磁轭
面议
德国尼克斯QNix8500涂层测厚仪概述 |
德国QNix 8500涂层测厚仪产品优点:
· 只需调零,无需校准
· 测量精度高
· 一体分体通用
· 可配多种探头
· 中英文菜单操作
· 智能化
· 带存储,并可连计算机对数据进行处理分析
· 可连接薄镀层探头,对极薄的镀层厚度准确测量,误差小于±3um
QNix 8500涂层测厚仪可选探头:
· Fe铁基探头: 0-2000μm 0-5000μm
· NFe非铁基探头: 0-2000μm 0-5000μm
· NFe/Fe两用探头:0-2000μm 0-5000μm
· 无线传输探头
· 薄镀层探头
QNix 8500涂层测厚仪技术参数:
QNix8500主机 基 体 Fe、NFe、NFe/NFe 探头形式 一体、有线分体、无线分体 显 示 LCD液 晶 显 示 测量范围 0-2000μm 测量精度 0-2000μm: ≤±2% 小基体 Fe/NFe:20x20mm 薄基体 Fe:0.2mm NFe:0.05mm 小曲率 凸半径:5mm 凹半径:30mm 储存温度 -10℃ --- 60℃ 温度补偿范围 0℃ --- 60℃ 电 源 2节1.5V干电池 尺 寸 124mm×67mm×33mm 重 量 120g(含电池及探头) 存 储 一个数据组,1000个测量值 数据传输 通过USB模块和电脑无线传输 统计功能 平均值,大值,小值,标准偏差
0-5000μm
2000-5000μm:≤±3%