电子产品高温老化房是针对高性能电子产品（如：计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、计算机、通讯、生物制药等领域。根据不同的要求配置主体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、风力恒温系统、时间控制系统、测试负载等，通过此测试程序可检杳出不良品或不良件，是客户迅速找出问题、解决问题提供有效手段。

设备特点

●提供大型零件、半成品、成品的高温老化测试。

●完整的安全保护装置。

● 超温排风机由变频器控制其运转，当温度下降至设定值下*时风机停止排风，排风系统同时关闭。循环系统在老化产品的过程中始终保持循环状态，以保证温度均衡。整套系统动作具有性能稳定，控制、温度波动小，均衡度高、噪音小等特点。

电子产品高温老化房技术参数：

设备尺寸：内箱尺寸：W(3700)mm × H( 1900)mm × D( 2300)mm；

外型尺寸（约）：W(3900)mm × H(2200)mm × D( 2850)mm，不含外置仪表架；

温度范围：RT～60 ℃ (测试产品发热量300W ,表面温度55℃)

（单/双)开门尺寸：双开门：W（1050+1050）mm×H1900mm；（ 可依客户要求选择或定制）

满足标准：

GB/T 5170.2-2008 温度试验设备

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高温试验方法Bb

GJB150.3-1986   高温试验

GJB150.3(ML-STD0-810D)高温试验方法

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高温寿命试验

温度波动：温度：≤±0.5℃

温度均匀度：温度：≤±3.0℃

温度升温时间：约40min