三箱冷热低温冲击测试箱用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。

三箱冷热低温冲击测试箱技术参数如下：内向尺寸：W360×H350×D400；W500×H400×D400；W600×H500×D500；W500×H750×D600；W750×H800×D800 

试区温度冲击可选择范围：A:-40℃～+150℃;B:-55℃～+150℃;A:-65℃～+150℃

高温区预热温度：60℃ ～ 200℃

低温区预冷温度：-10℃～-55℃,-10℃～-65℃,-10℃～-75℃（此温度会根据测试区温度范围而调整）

温度分布均匀度：±2℃

温度波动度：±0.5℃

温度恢复时间：3～5min

高温区预热温度升温时间：150℃/30min,150℃/40min,150℃/40min,150℃/40min

低温区预冷温度降温时间：-40℃/60min, -55℃/70min, -65℃/80min

保温材质：硬质聚胺脂发泡+玻璃棉

内箱材质：SUS#304 不锈钢板

外箱材质：SUS#304纱面不锈钢或冷扎钢喷塑处理

加热系统：镍铬合金不锈管加热器

循环系统：多翼离心式循环风扇

控制系统：彩色液晶触摸屏控制器

操作步骤：

1.预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

2.初始检测：将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。

3.试验：

1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到点，保持的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

2)高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

3)低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

4)重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。

4. 恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。

5.检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。