测量
双晶探头测量模式 从激励脉冲后的延时到*个回波之间的时间间隔。
THRU-COAT ®
测量模式
利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度
（使用D7906-SM和D7908探头）。
穿透漆层回波到回波
测量模式
在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的
厚度。
单晶探头测量模式 模式1： 激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔
模式2： 延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔（使
用延迟块或水浸探头）
模式3： 在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻
底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水
浸探头）
氧化层模式：可选。
多层模式：可选。
厚度范围 0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度
和所选配置而定。
材料声速范围 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可选择） 低分辨率：0.1毫米
标准分辨率：0.01毫米
高分辨率（可选项）：0.001毫米
探头频率范围
标准：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）
高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）