超低硅分析仪
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能够准确检测汽油中硅含量的单波长色散X射线荧光光谱仪
汽油在炼制过程中使用了含硅的试剂或催化剂,这些硅化合物在汽车发动机中无法*燃烧,时间一长硅的沉积物会造成氧气传感器失效等故障,因此汽油中硅元素的检测被列入国家标准制定范围之列。
针对硅元素的检测仪器,主要有ICP和XRF两种方法,相比于ICP方法,XRF方法使用方便,无需专业经验人员即可操作使用,单波长色散X射线荧光光谱仪(MWD XRF)更具有高灵敏度以及长期稳定性等特点,是轻松应对超低硅含量分析的利器。
依赖高通量双向曲面弯晶核心技术,进一步提升制造工艺,保证光路系统的精密度,真正能够将硅检出限降低到1PPM以内的X射线荧光光谱仪。
比较项 | ICP | MWD XRF |
原理 | 电感耦合等离子体发射光谱仪 | 单波长色散X射线荧光光谱仪 |
消耗 | 高纯氩气、吹扫用高纯氮气、矩管,消耗约1000元/天 | 无需钢瓶气体 样品杯与样品膜,消耗4元/样品 |
结果准确性 | 影响因素:气体纯度、燃烧充分性、光栅移动重复性、干扰元素共存谱线 | 只针对硅元素进行高灵敏度检测,无任何元素谱线干扰 |
操作方便性 | 需要有经验的操作人员,对测试数据有解析能力 | 使用方便,步骤简单,无需经验即可操作,操作者对测量结果无影响 |
检出限 | 硅方法检出限~0.15PPM | 硅方法检出限~0.6PPM |
ICP与MWD XRF比较表
测量原理:单波长色散X射线荧光光谱仪
Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer(MWD XRF)
符合标准:ASTM D7757
产品特点:
性能指标:
检出限:0.6PPM(异辛烷基体中硅)
准确度:2PPM±0.6PPM,5PPM±0.8PPM,10PPM±1PPM
稳定性:5PPM标样连续测试15次,RSD值15%以内
线性:0、1、2、5、10、50PPM硅标样,线性99.9%以上
测试时间:500秒—1000秒
应用领域:
汽油、柴油样品中硅含量分析,炼油企业催化剂中硅含量分析,液体或固体中硅含量分析。