TP-LOS1 CCD综合实验系统

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2021-06-10 22:15:03
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天津市拓普仪器有限公司

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产品简介

TP-LOS1 CCD综合实验系统

详细介绍



仪器介绍
TP-LOS1 CCD综合实验系统是在《光电子学》课程重要章节《CCD原理与应用》的基础上开发的综合实验。该实验采用模块化、开放式设计,直观展现了线阵、面阵CCD的工作原理,并且设置了工程实践常用的测试项目实验,是学生认识和理解CCD工作原理与应用实际的理想教学实验系统。
 

实验内容
线阵:
1.         线阵CCD驱动实验
2.         线阵CCD特性测量实验
3.         线阵CCD二值化实验
4.         工件直径测量实验
5.         角位测量实验
 
面阵:
1.面阵CCD驱动实验
2.面阵CCD特性测量实验
3.面阵CCD数据采集实验
4.图像点运算实验
5.工件二维尺寸测量实验
6.印刷品颜色检测实验
 
知识点
CCD基本工作原理、转移效率、移动损失率、工作频率、光电转移特性、光谱响应、动态范围、暗电流、分辨率、积分时间、CCD驱动时序、CCD信号处理与计算机数据采集
 
配置表及规格参数
名   称规    格数 量
光    源半导体激光器:P>2mW,λ=650nm,模式TEM00,直径Φ3mm单模铠甲光纤,纤芯4μm,NA0.12
LED光源:白光/三色LED,P>1W ,亮度连续可调
1套
光学组件镜    头:f=16mm,F1.4
透    镜:Φ25.4mm,应用波长:400nm-700nm
光学平板:K9玻璃,Φ50mm,D20mm
狭    缝:Φ25,缝宽200μm,缝长20mm
1套
探测器组件线阵CCD:二相线阵CCD,工作电压5V,像素单元2160x1,像素单元大小14μm*14μm,USB数字接口及信号测试接口
面阵CCD:彩色面阵CCD,工作电压5V,有效像素单元752x582,像素单元大小6.5μm(H)*6.25μm(V),USB数字接口及信号测试接口
1套
测试组件电气面包板:12芯数据接口,驱动脉冲测试端,二值化信号测试端,CCD模拟信号测试端,电压调节端,光源调节旋钮1套
数据软件USB驱动程序,信号采集及显示模块,系统参数标定模块,直径测量模块,厚度测量模块,角位置测量模块,印刷品颜色检测模块,图像点运算模块(图像反色、灰度线性变换、直方图)1套
其    他实验讲义1套
需 另 配计算机及打印机1套
 
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