法国LAMTECH用于精加工表面的目视检查干涉仪 SPI 75

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产品属性：SPI 视觉检测仪器允许对研磨、研磨或抛光表面进行平面度检查。平面度测量仪一样，SPI干涉仪也是基于光的掠入射原理法国LAMTECH干涉仪 SPI 75。因此，对于无光泽的测试对象，SPI 干涉条纹是可见的。在使用 SPI 检查之前，不必对零件进行抛光。SPI 可提供 75 和 130 毫米的测量范围。此外，我们还提供具有增强灵敏度的 SPI-xs。灵敏度设置为 0.3 µm/条纹，这对应于使用光学平面和氦灯或钠灯进行测量的灵敏度法国LAMTECH干涉仪 SPI 75。

主要产品：激光平面度测量仪SP，I目视检查干涉仪法国LAMTECH干涉仪 SPI 75

产品应用： SPI干涉仪用于零件的视觉平面度检查 Lamtech Lasermesstechnik 提供干涉仪，用于对精加工零件进行视觉平面度检查。 为了评估测试对象，将零件放置在 SPI 的玻璃表面上。部分和边缘比在放大呈现。平面度的评估是基于对显示的干涉条纹的直线度、平行度和等距的解释进行的。 干涉仪适合放置在靠近加工机器的生产区域。 法国LAMTECH干涉仪 SPI 75程序 INTDOK (更多) 或打印机可以记录零件的平整度。 目视检查干涉仪 SPI – 用于精加工表面的目视平面度检查 配饰提供可选的灵敏度标准，用于常规控制 SPI 视觉检查干涉仪的正确灵敏度设法国LAMTECH干涉仪 SPI 75