功率循环测试强大专家技术团队服务内容

广电计量功率循环测试通过负载电流加热和开关断动作，来模拟器件工作中的结温波动，通过一定程度的加速老化，以提前暴露器件封装的薄弱点，评估封装材料的热膨胀系数差异对器件寿命的影响，是考核功率器件封装可靠性最重要的可靠性测试，也是进行器件寿命模型建立和寿命评估的根本。

功率循环测试强大专家技术团队服务范围

车规级功率器件模块及基于分立器件的等效特殊设计产品。

检测标准

● DINENISO/IEC17025：General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories

● IEC 60747系列：Semiconductor Devices, Discrete Devices

● IEC 60749系列：Semiconductor Devices ‒ Mechanical and Climatic  Test Methods

● DIN EN 60664系列：Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems

● DIN EN 60069系列：Environmental testing

● JESD22-A119:2009：Low Temperature Storage Life

检测项目

根据负载电流加热的时长不同，功率循环测试分为秒级功率循环（PCsec）， 分钟级功率循环（PCmin），如电力电子模块AQG324测试标准规定，不同的负载电流加热时长，考察的封装体对象也不同。如下表：

相关资质

CNAS

测试周期

常规5-7个工作日

服务背景

功率循环测试被称为考核功率器件封装可靠性最重要的实验，尤其是 SiC MOSFET 功率器件的快速发展，是近几年的研究热点。与其他可靠性测试不同的是，功率循环测试原理虽然简单，但测试技术、测试方法和数据处理却涉及到半导体物理、电磁学、传热学、结构力学和信号分析等多学科交叉，处理不当将得到错误的结论。

我们的优势

广电计量在Si基功率半导体模块、SiC模块等相关测试有着丰富的实战经验，是SiC领域国内的第三方检测机构之一，为众多半导体厂家提供模块的规格书参数测试、竞品分析、环境可靠性、寿命耐久和失效分析等一站式测试服务。

在功率循环测试方向，广电计量引进多台西门子功率循环测试机台Power Tester1800A/1500A，同时还有部分国产高可靠性功率循环测试机台，能提供水冷/水乙二醇混合冷却/油冷等冷却方式，并且满足20℃~125℃的底温要求，产能充足。

手法，可以协助厂家进行AQG324的认证检测；拥有经验丰富的材料及电性能可靠性专家，可以针对功率半导体进行失效分析及可靠性验证方案的设计与执行。