失效分析-功率器件失效根因分析强大专家技术团队-广电计量检测集团股份有限公司手机版

产品简介

功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量功率器件失效根因分析强大专家技术团队拥有先进的失效分析设备，专注功率器件失效根因分析，可为客⼾提供完整的失效根因分析服务。

详细介绍

功率器件失效根因分析强大专家技术团队服务范围

MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半导体器件等分⽴器件，以及上述元件构成的功率模块

检测标准

l GJB548B-2005微电⼦器件试验⽅法和程序

l GJB8897-2017军⽤电⼦元器件失效分析要求与⽅法

l QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求

检测项目

试验类型	试验项⽬
⽆损分析	X 射线透视、声学扫描显微镜、⾦相显微镜
电特性/电性定位分析	电参数测试、IV&CV 曲线量测、ESD、Photon Emission、OBIRCH、ATE 测试与三温(常温/低温/高温) 验证
破坏性分析	开封、去层、切⽚、芯⽚级切片、推拉力测试
微观显微分析	DB FIB切⽚截⾯分析、FESEM 检查、EDS微区元素分析、扫描电镜、透射电镜

相关资质

CNAS

功率器件失效根因分析强大专家技术团队服务背景

受益于国产替代趋势，国内功率器件厂商迎来了发展机会。在成长中厂商迫切希望减少或消除产品失效，并在设计、⼯艺和产品研发、量产、可靠性测试、封装等阶段进⾏改进，以迅速占领市场。

我们的优势

广电计量拥有专家团队及先进的失效分析设备，专注功率器件失效根因分析，可为客⼾提供完整的失效根因分析服务，针对产品的研发设计、来料检验、加⼯组装、测试筛选、客⼾端使⽤等各个环节，为客⼾提供失效分析咨询、协助客⼾开展设计规划、以及分析测试服务。