波恩仪器 品牌
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美国Microsemi, lnc.公司(美国讯腾)的5120A相位噪声阿伦方差测试仪可同时测量相位噪声及阿伦方差，也可以测量相位差和频率差，同时也可作为高精度频率计使用。
免除了载波抑制的需要，使很小的频差下测量相位噪声成为可能。依赖于同一技术，阿伦方差的测量时间可以延长至300天。广泛运用于计量测试，高精度振荡器的生产和使用、微波设备的检测，信号分析等领域。 另有TSC 5115A(只测相噪)，TSC 5125A（0-400MHz输入范围）可选。
| 准确测量：分辨率达到100飞秒，即1E-13秒
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频率范围 | 1-30 MHz | 测量准确度 | ± 1.0 dB |
相 位 噪 声 特 性 | |||
艾伦方差 | ≤3E-15@1s | 频率偏置范围 | 0.1 mHz to 1MHz |
偏 置 | L(f) 相噪 | ||
1Hz | -145 dBc/Hz | ||
10Hz | -155 dBc/Hz | ||
100Hz | -165 dBc/Hz | ||
≥10KHz | -175 dBc/Hz | ||
系统噪声本底（10MHz输入，带5120A-001内部参考） | |||
偏 置 | L(f) 相噪 | ||
1Hz | -120 dBc/Hz | ||
≥10KHz | -168 dBc/Hz | ||
5120A Block Diagram
美国Microsemi, lnc.公司(美国讯腾)的5120A相位噪声阿伦方差测试仪可同时测量相位噪声及阿伦方差，也可以测量相位差和频率差，同时也可作为高精度频率计使用。
