型号：

EDX 2800 X荧光光谱仪

测试对象：

粉末、固体、液体

元素分析范围：

硫（S）－铀（U）

同时多可测元素：

75种

含量分析范围：

1ppm～99.99%

工作稳定性：

总荧光强度为0.1％

测试时间：

60～200秒

检测器分辨率：

160±5eV

多道分析器：

2048道

X射线光管：

功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo

高压电源：

电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05%

外型尺寸：

550mm*416mm*333mm

测量仓：

460mm*298mm*98mm

重量：

45Kg

检出限：

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

镀层技术参数：

可测镀层数：

多可达5层

镀层种类：

单金属镀层、合金镀层

镀层识别精度：

分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。

厚度测试范围：

轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um

中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um

重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

计数率：

1300-8000cps