JB4040型β、γ表面污染检测仪

一、仪器简介：

　　JB4040型β、γ表面污染检测仪，适用于低水平β、γ辐射表面污染检测，同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。

二、仪器特点：

1、GM探测器阵列，探测效率高；

2、便携式设计，重量轻；

3、单片机控制，软件功能强；

4、LCD液晶显示，会话式操作界面；

5、计数率显示CPM、CPS、μSv/h；

6、电池失效报警。

三、主要技术指标：

1、计数范围：1～106；     

2、探测器面积：25cm2；

3、灵 敏 度：≥500 CPM/μSv/h；

4、剂量率范围：0.01～200.00µSv/h；

5、仪器本底：每分钟计数≤130 CPM；

6、相对误差：测量范围内相对基本误差≤20%；

7、供电电源：2节1.5v普通5号电池，整机电流≤50mA；

8、温度范围：-10℃～45℃；

9、湿度范围：相对湿度≤90%（40℃）；

10、尺寸重量：0.64kg;23×13×4.5（cm）。