J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）系统

J200 Femto iX激光烧蚀（LA）仪器

200 Femto iX LA仪器代表了基于世界上紧凑的台式设计的超快激光采样技术的新技术。该仪器是高度成功和久经考验的J200 Femto LA仪器的下一步发展，J200 Femto LA仪器在世界上拥有大的安装量。

J200 Femto iX的核心是紧凑而坚固的激光源，可从Applied Spectra获得。J200 Femto iX具有*的硬件设计，包括智能运输气体控制，自动样品高度调节，高分辨率3D样品台，创新的样品池和LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能，是具创新性的飞秒可以解决苛刻的LA-ICP-MS分析的LA仪器。该仪器还配有业界的数据分析软件Clarity Femto，可进行有效的时间分辨ICP-MS信号处理，简单的定量分析，2D / 3D元素成像和样品取证。

J200 Femto iX LA仪器的亮点：

• 高精度，准确度和灵敏度
• 紧凑的台式设计
• 负担得起的费用
• 维护成本低
• 紧凑型高重复率飞秒激光器

• 智能运输气体控制
• 自动调整样品高度
• 高分辨率3D样品台
• 创新的样品池
• 串联LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能

应用须知

使用J200 LA仪器实现超灵敏电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）分析：玻璃样品研究

Applied Spectra Inc.的J200 LA仪器与ICP-MS连接以建立品质因数。分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以确定可以检测的质量并确定检测限（LOD）。