X 射线单色仪是一种弯曲单晶元件，可有效聚焦 X 射线辐射。多年来，人们一直知道弯曲晶体的特性，并将其用于聚焦和分析 X 射线。从根本上说，这些光学元件是通过衍射满足布拉格条件的 X 射线来工作的、 n λ = 2 d sin ( θB )，其中 n 是整数，λ 是波长，d 是相邻晶格平面之间的间距，θB 是以晶体平面为基准的布拉格角。通过在两个方向上弯曲晶体平面以形成环形表面，可以在矢状方向和切线方向上聚焦，同时将偏差降到很低。这些组件的应用包括同步辐射光束线的高能量分辨率分析仪、分析化学仪器以及热稠密等离子体的光谱和成像--常见的是用于核聚变研究设施的目标诊断。

光学接触式晶体确保无排气

准确抛光的曲率，斜率误差小，晶体高度保形

晶体取向验证小于 2 弧秒

通过 X 射线地形图识别和剔除位错、应变和表面下损伤

真空兼容性

光斑尺寸小

高衍射和高 X 射线通量

均匀的衍射强度曲线

产地：美国

衍射晶体：石英、硅、锗、铌酸锂、lnAs、KAP，以及其他可定制的材料

表面形状：环形、椭圆形、非球面、圆柱形、圆锥形和球形

基底材料：N-BK7、耐热玻璃和铝

装配尺寸：直径可达 250 mm

装配特征：缺口、凹槽和插入件便于集成和校准

方向精度：精度达 ±10 弧秒；相对精度达 ±2 弧秒

斜度误差：在 633 纳米波长下到每英寸λ/4

半径公差：准确度在 1%以内，环形结构的 Rv/Rh 比率控制在小数点后几位。

测量方法：X 射线成像计量法

厚度：通常小于 100 μm

是否可弯曲：可轻松弯曲

同步辐射光束线的高能量分辨率分析仪、分析化学仪器以及热稠密等离子体的光谱和成像、用于核聚变研究设施的目标诊断