由于多种原因，SWIR成像仪（短波长红外）是监视电光成像仪的重要组成部分。首先，InGaAs技术的进步使设计成本相对较低的SWIR成像器成为可能。其次，InGaAs成像仪非常灵敏，即使在漆黑的夜晚也可以生成观察到的风景图像。第三，与在可见/近红外波段工作的电视摄像机相比，SWIR成像仪更不容易受到恶劣的大气条件的影响。第四，即使使用比用于热像仪设计的光学器件小得多的光学元件构建，SWIR成像器也可以生成高分辨率图像。 SWIR成像器通常使用观察到的目标反射的辐射来创建这些目标的图像，类似于电视摄像机。 SWIR成像仪还可以使用观察到的目标发出的热辐射来创建这些目标的图像，例如热成像仪。由于具有这些功能，可以使用测试电视摄像机的方法或测试热像仪的方法来测试SWIR。 InGaAs FPA的参数也可用于表征SWIR成像仪。

Inframet建议通过以下三种方式来表征SWIR成像仪：a）测量电视摄像机的典型参数（分辨率，最小可分辨对比度，MTF，失真，FOV，灵敏度，SNR，等效噪声输入，固定模式噪声，不均匀性），b）测量热成像仪的典型参数（MRT，MDT，MTF，NETD，FPN，不均匀性，畸变，FOV），c）测量InGaAs FPA模块的参数（平均检测度，等效噪声辐照度，动态范围）。

ST测试系统通常是可变目标测量系统，它使用一系列不同的目标将其图像投影到测试的SWIR成像器的方向。成像器会生成投影图像的变形副本。成像仪生成的图像的质量由观察员或软件进行评估，并测量SWIR成像仪的重要特性。ST测试系统由反射式离轴准直仪，宽带光源，中温黑体，电动转轮，一组目标，带通滤波器，PC，图像采集卡和测试软件组成。