【单个IC或其它元件，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件，与传统
 

　　适用范围
 

　　高低温冲击热流仪适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
 

　　工作原理
 

　　1、试验机输出气流罩将被测试品罩住，形成一个较密闭空间的测试腔，试验机输出的高温或低温气流，使被测试品表面温度发生剧烈变化，从而完成相应的高低温冲击试验；
 

　　2、可针对众多元器件中的某一冷热冲击试验箱相比，温变变化冲击速率更快。
 

　　工作模式
 

　　A)2路主空气管输出，由分布头分为8路供气，带2套1拖8 系统
 

　　B) 2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
 

　　测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温)
 

　　主要技术参数
 

　　设备型号： HE-ATS750
 

　　温度控制；范围： -70℃～+250℃
 

　　冲击温度范围： -60℃～+200℃
 

　　温度转换时间： ≤10秒
 

　　温度偏差： 测试品恒定在-40℃时，温度偏差为±1℃
 

　　冲击气流量： 1.9~8.5L/s(分为8路，每路0.23~1.06 L/s)连续气流
 

　　温变速率降： RT+10℃降至-40℃≤60s
 

　　试品表面温度： RT+10℃降至-40℃约1分钟试品表面温度达到，气体温度与样品温度可选择测控
 

　　样品盒尺寸： 直径140mm×高50mm
 

　　制冷方式： 采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统，温度可达-70℃
 

　　控制系统： 采用进口智能PLC触摸屏控制，7寸彩色屏
 

　　试品： 带2套1拖8 系统，金属封装PCB板模块8片
 

　　外形尺寸： 宽790×高1600×深1080(mm)以实物为准
 

　　使用电源： AC 三相 五线 380V 50/60HZ
 

　　噪音： ≤65dB(A声级)
 

　　条件： 风冷式环境温度在+23℃时
 

　　干燥气源： 用户自备
 

　　注：前端空气经干燥过滤器处理，产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜