CTLD-450型热释光辐照食品检测仪

简介

辐照食品鉴定是利用电离辐射与食品相互作用产生的物理、化学和生物反应的可检测性而建立的鉴定辐照食品的方法。

CTLD-450型热释光辐照食品检测仪用于从辐照食品、添加剂中提取的硅酸盐矿物质样品的剂量测量, 满足国家标准《个人和环境监测用热释光剂量测量系统》（GB 10264）规定的要求（产品）。

CTLD-450型热释光辐照食品检测仪

特点

◇ 灵敏度自动调节，在测量过程中无需调节高压；

◇ 升降电加热系统，采用移动式加热盘，测量后可直接将装有样品的加热盘取下来，进行照射、称重；

◇ 大剂量测量：对样品量无需限制；

◇ 曲线显示、存储、分析：适时在一个界面上将测量曲线(辐照前计数、辐照前本底、辐照后计数、辐照后本底)显示出来、自动存储发光曲线，可对曲线进行比较分析；

◇ 自动校准、中文菜单、数据库编译/检索、发光曲线显示/存储、数据打印、条码扫描、模块结构、性能稳定可靠、维修简便；

◇ 电容式触摸按键：上、下、左、右、确认、取消、菜单；

◇ 双抽屉结构：从食品中提取的硅酸盐矿物质为颗粒状，测量时样品中的杂质会对光测量系统造成污染，可拉出侧抽屉，清洁光测量系统，清洁后推入抽屉即可测量；

◇ 读出器采用模块结构，具有整体性好、外形美观、性能可靠、维修简便等特点。

主要技术指标

◇ 测量系统稳定性：≤0.1%

◇ 加热参数设置：储存十组加热参数，可根据需要改变参数设置；

◇ 剂量线性测量范围: 10^-7Gy ～30Gy；

◇ 测量系统精度：≤±0.1%～±0.06%；

◇ 长期稳定性： 0.05%～0.3%；

◇ 灵敏度重复性的变化系数：≤0.1%±0.05%/℃；

◇ 加热时间重复性：≤0.1%；

◇ 加热温度范围：0～450℃；

◇ 加热速率：1～40℃·s^-1；

◇ 加热温度重复性：≤1%；

◇ 加热温度偏差：≤±1℃；

◇ 外形尺寸(W×D×H): 440mm（450）×300mm×440mm

◇ 重量：≤25kg

◇ 储存温度：-10～50℃；

◇ 工作温度：0～40℃

◇ 相对湿度：≤90%

◇ 电    源：220V±10%, 50Hz

系统配置

◇ CTLD-450型热释光辐照食品检测仪

◇ 打印机

◇ 计算机

◇ 应用软件（测量、数据库、曲线分析）

◇ 工具盒（样品盘、镊子）

◇ 航空包装箱

控制面板

界面（举例）

开机界面

菜单界面

待机测量界面

应用软件界面